次級離子質譜法

次級離子質譜法（secondary ion mass spectrometry）是2014年公布的藥學名詞。

基本介紹

• 中文名：次級離子質譜法
• 外文名：secondary ion mass spectrometry
• 所屬學科：藥學
• 公布時間：2014年

定義

利用初級離子轟擊樣品表面，使樣品表面的部分原子離子化，形成次級離子，再利用質譜儀測量從靶上射出的次級離子質荷比的技術。

出處

《藥學名詞》第二版。