晶片驗證漫遊指南

作者簡介

作者劉斌（路桑）目前是Intel公司的資深驗證專家。在Intel移動通信事業部主持驗證架構規劃和方法學研究，擔任過幾款億門級通信晶片的驗證經理角色。在工程領域之外，他在西安電子科技大學和西安交通大學客座講授晶片驗證課程。創辦的驗證技術訂閱號“路科驗證”，目前已有超過10000名的訂閱者。多次在設計驗證行業國際會議和展覽中發表論文，並做了富有特色的演講。在西安交通大學取得微電子專業學士學位，在瑞典皇家理工學院取得晶片設計專業碩士學位。

圖書簡介

在本書中，資深驗證專家劉斌（路桑)將向您全面介紹驗證的理論實踐，並針對系統設計給出了動態驗證的集成解決方案。這是一本面向高校積體電路設計相關專業的晶片驗證教材，是IC行業產學結合的典範,已投入到示範性微電子學院教學並得到檢驗。

圖書結構

1、驗證的通識部分(第1章至第6章)

2、System Verilog 語言(第7章至第9章)

3、UVM驗證方法學部分(第10章至第14章)

4、高級套用部分(第15章至第18章)

圖書目錄

第1章晶片驗證全視

1.1 功能驗證簡介

1.2 驗證的處境

1.3 驗證能力的5個維度

1.4 驗證的任務和目標

1.5 驗證的周期

1.6 本章結束語

第2章驗證的策略

2.1 設計的流程

2.2 驗證的層次

2.3 驗證的透明度

2.4 激勵的原則

2.5 檢查的方法

2.6 集成的環境

2.7 本章結束語

第3章驗證的方法

3.1 動態仿真

3.2 靜態檢查

3.3 開發環境

3.4 虛擬模型

3.5 硬體加速

3.6 效能驗證

3.7 性能驗證

3.8 趨勢展望

3.9 本章結束語

第4章驗證的計畫

4.1 計畫概述

4.2 計畫的內容

4.3 計畫的實現

4.4 計畫的進程評估

4.5 本章結束語

第5章驗證的管理

5.1 驗證周期的檢查清單

5.2 驗證管理的三要素

5.3 驗證的收斂

5.4 讓漏洞無處可逃

5.5 團隊建設

5.6 驗證師的培養

5.7 驗證的專業化

5.8 本章結束語

第6章驗證的結構

6.1 測試平台概述

6.2 硬體設計描述

6.3 激勵發生器

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基本介紹

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