時間分辨螢光檢測系統

時間分辨螢光檢測系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年10月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：時間分辨螢光檢測系統
• 產地：英國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2019年10月31日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

1.1 檢測波長範圍：350-1050nm；壽命範圍100ps-1μs； 1.2 反聚束測試，系統配置專業的擬合軟體； 1.3 雷射共焦螢光強度成像LCM；螢光壽命成像FLIM，FLIM-FRET成像； 1.4 螢光波動成像FFS（FCS，FCCS,FLCS），包括交替激發PIE測試； 1.5 偏振測量，及計算旋轉時間專用軟體； 1.6 光譜測試範圍：400-1100nm； 1.7 低溫樣品環境：77-500k。

主要功能

發光中心或者發光薄膜的載流子壽命表征和mapping。