日立冷場掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年7月8日啟用。
基本介紹
- 中文名：日立冷場掃描電子顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2016年7月8日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
解析度高壓1.0nm。
主要功能
微觀組織分析。
日立冷場掃描電子顯微鏡
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