數據域測試技術及儀器

內容簡介

本書論述和介紹數字系統（包括LSI/MSI/SSI電路、印製電路板及計算機等）的測試理論、測試設備及測試系統，反映了近幾年國內外該領域科研、生產的最新發展狀況．全書共九章，主要內容如下：數字系統測試的特點、發展概況及專業術語等；組合電路和時序電路的測試理論；隨機測試和窮舉測試技術，重點是近幾年提出的用於VLSI電路測試的各種偽窮舉測試技術；LFSR理論，特徵分析儀的組成、工作原理及其正確使用技術；數字電路的可測性設計和內在自測試設計技術；微處理器的各種測試方法及LSI測試系統的組成原理；數字電路板的測試技術和測試系統；邏輯分析儀及微機開發系統．

本書可供高等院校有關專業的高年級學生和研究生作教材或參考書，也可供從事數字積體電路、計算機及其它數字設備的設計、生產或維修等工作的科技人員閱讀．

圖書目錄

第一章導論

第二章組合電路測試

第三章時序電路測試

第四章隨機測試和窮舉測試

第五章特徵分析技術及儀器

第六章數字電路的可測性設計

第七章微處理器測試及LSI測試儀

第八章電路板的測試

第九章邏輯分析儀和微機開發系統

數據域測試技術及儀器

基本介紹

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