數字電路典型實驗範例剖析

數字電路典型實驗範例剖析

《數字電路典型實驗範例剖析》是人民郵電出版社出版的圖書,作者是王澤保,趙博。

基本介紹

  • 書名:數字電路典型實驗範例剖析
  • 作者:王澤保,趙博
  • ISBN:9787115124029
  • 出版社:人民郵電出版社
  • 出版時間:2004-7-1
  • 裝幀:平裝
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

本書為配合數字電路課程的教學以及教學改革而編寫,目的在於強化動手能力、創新能力的培養和提高。
本書分為“基礎知識”、“單元實驗”和“課程設計”3部分。第一部分基礎知識簡要介紹了數字電路設計的相關器件(單片機、DSP、嵌入式系統、可程式器件),使初學者對這些器件的開發有大致的了解。第二部分單元實驗包括基本門特性分析、TTL電路單元實驗,時序/組合邏輯實驗。第三部分課程設計包括了GAL和TTL的綜合實驗、高密度可程式器件CPLD實驗、單片機、DSP實驗等內容,突出EDA技術的設計思想。
本書可作為高等學校計算機、電子、通信、自動化等專業的配套輔助教材,亦可作為相關專業課教師及實驗室技術人員的參考書。

圖書目錄

第一部分 基礎知識
第1章 數字電路主要硬體簡介
1.1 單片機簡介
1.1.1 單片機的歷史、現狀及未來
1.1.2 單片機的組成
1.1.3 單片機的開發
1.1.4 EM78P447單片機簡介
1.2 DSP簡介
1.2.1 DSP晶片的特點
1.2.2 DSP在結構上的幾大優勢
1.2.3 DSP晶片的發展現狀及其套用
1.2.4 DSP程式開發
1.3 嵌入式系統(Embedded System)
1.3.1 嵌入式系統的定義
1.3.2 嵌入式系統的歷史
1.3.3 嵌入式系統的特點
1.3.4 嵌入式系統的分類
1.4 可程式器件簡介
1.4.1 可程式邏輯器件的概念
1.4.2 可程式邏輯器件與專用積體電路
1.4.3 可程式邏輯器件的種類
1.4.4 可程式邏輯器件的發展動態
1.4.5 PLD技術和其他技術的比較
1.5 通用陣列邏輯GAL的結構與特點
1.5.1 通用陣列邏輯GAL的特點
1.5.2 通用陣列邏輯的技術指標
1.5.3 通用陣列邏輯的結構和工作原理
1.5.4 輸出邏輯宏單元(OLMC)
1.6 可程式陣列邏輯器件EPM7128簡介
1.7 電路板製作工具Protel簡介
1.7.1 DXP軟體介紹
1.7.2 Protel軟體的發展歷史
1.7.3 PCB板設計的工作流程
1.8 MAX+plusⅡ軟體介紹
1.8.1 MAX+plusⅡ的功能特點
1.8.2 MAX+plusⅡ的系統要求
1.8.3 MAX+plusⅡ的設計流程
第二部分 單元實驗
第2章 TTL單元電路實驗
實驗一 門電路的特性分析
實驗二 特殊門電路的特性分析與設計
實驗三 可控碼制轉換器的設計與實現
實驗四 減法器和加法器的設計與實現
實驗五 可控五進制計數器的設計與實現
實驗六 1011序列檢測器的設計與實現
實驗七 流水燈的設計與實現
第3章 通用陣列邏輯GAL實驗
實驗八 門電路設計與實現
實驗九 組合邏輯電路的設計與實現(一)
實驗十 組合邏輯電路的設計與實現(二)
實驗十一 可控計數器的設計與實現
第三部分 課程設計
第4章 TTL與GAL綜合實驗
第5章 高密度可程式器件CPLD實驗
第6章 單片機實驗
第7章 DSP實驗

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