《數字電子技術基礎》是2014年人民郵電出版社出版的圖書，作者是楊碧石、陸冬明。
基本介紹
- 書名：數字電子技術基礎
- 作者：楊碧石,陸冬明
- 出版社：人民郵電出版社
- 出版時間：2014年2月1日
- 頁數：256 頁
- 定價：36 元
- 開本：16 開
- 裝幀：平裝
- ISBN：9787115302342
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《數字電子技術基礎（第2版）》介紹邏輯代數的基本知識及其數字邏輯電路的基本分析和設計方法。全書共分8章。主要內容包括邏輯代數的基本知識，組合邏輯電路的分析與設計，時序邏輯電路的分析與設計，脈衝波形產生電路，數模和模數轉換電路，半導體存儲器和可程式邏輯器件等。章末都配有小結、關鍵術語、自測題、習題和實驗與實訓等，便於讀者鞏固所學理論知識，提高分析問題和解決問題的能力。
《數字電子技術基礎（第2版）》可作為高職高專院校電子、電氣、自動化、計算機等有關專業的教材，也可作為自學者及科技人員參考用書。
圖書目錄
第1章 邏輯代數基礎
1.1 模擬信號和數位訊號
1.1.1 模擬信號和數位訊號
1.1.2 模擬量的數字表示
1.1.3 數字電路的特點和分類
1.2 數制和碼制
1.2.1 數制
1.2.2 碼制
1.3 邏輯代數的基本運算
1.3.1 與運算（邏輯與）
1.3.2 或運算（邏輯或）
1.3.3 非運算（邏輯非）
1.4 邏輯代數的基本定律及規則
1.4.1 基本定律
1.4.2 常用公式
1.4.3 重要規則
1.5 邏輯函式及其表示方法
1.5.1 邏輯函式
1.5.2 邏輯函式的表示方法
1.5.3 邏輯函式的兩種標準形式
1.6 邏輯函式的化簡
1.6.1 邏輯函式的最簡表達式
1.6.2 邏輯函式的公式法化簡
1.6.3 邏輯函式的卡諾圖化簡法
1.6.4 具有無關項的邏輯函式及其化簡
1.7 數字系統一般故障的檢查和排除
1.7.1 直觀檢查法
1.7.2 測量電阻法
1.7.3 靜態測量
1.7.4 動態測量
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
第2章 邏輯門電路
2.1 基本邏輯門
2.1.1 與門
2.1.2 或門
2.1.3 與門和或門實際套用
2.1.4 非門
2.2 複合邏輯門
2.2.1 與非門
2.2.2 或非門
2.2.3 異或門
2.2.4 同或門
2.2.5 與或非門
2.2.6 與非門和或非門實際套用
2.3 特殊邏輯門
2.3.1 三態邏輯門
2.3.2 集電極開路邏輯門
2.4 集成邏輯門
2.4.1 數字積體電路分類
2.4.2 TTL積體電路邏輯門
2.4.3 CMOS積體電路邏輯門
2.4.4 積體電路邏輯門的性能參數
2.4.5 TTL與CMOS積體電路的接口
2.4.6 積體電路使用常識
2.5 故障診斷和排查
2.5.1 與門和或門的故障排查技術
2.5.2 與非門和或非門的故障排查技術
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第3章 組合邏輯電路
3.1 組合邏輯電路的特點和分類
3.1.1 組合邏輯電路的特點
3.1.2 組合邏輯電路的功能表示方法
3.1.3 組合邏輯電路的分類
3.2 組合邏輯電路的分析和設計
3.2.1 組合邏輯電路的分析
3.2.2 組合邏輯電路的設計
3.3 常用集成組合邏輯電路
3.3.1 加法器
3.3.2 數值比較器
3.3.3 編碼器
3.3.4 解碼器
3.3.5 數據選擇器和分配器
3.4 組合邏輯電路中競爭冒險現象
3.4.1 競爭冒險現象的產生原因
3.4.2 競爭冒險現象的判斷方法
3.4.3 競爭冒險現象的消除方法
3.5 故障診斷和排查
3.5.1 電平恆定
3.5.2 加法器的故障排查技術
3.5.3 比較器的故障排查技術
3.5.4 編碼器的故障排查技術
3.5.5 解碼器的故障排查技術
3.5.6 數據選擇器的故障排查技術
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第4章 觸發器
4.1 基本觸發器
4.1.1 用與非門組成的基本觸發器
4.1.2 用或非門組成的基本觸發器
4.1.3 基本RS觸發器的特點及套用
4.2 同步觸發器
4.2.1 同步RS觸發器
4.2.2 同步D觸發器
4.2.3 同步RS觸發器的空翻問題
4.3 主從觸發器
4.3.1 主從RS觸發器
4.3.2 主從JK觸發器
4.4 邊沿觸發器
4.4.1 邊沿D觸發器
4.4.2 邊沿JK觸發器
4.4.3 其他類型觸發器
4.5 故障診斷和排查
4.5.1 基本RS觸發器的故障排查技術
4.5.2 邊沿JK觸發器的故障排查技術
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第5章 時序邏輯電路
5.1 時序邏輯電路的特點和分類
5.1.1 時序邏輯電路的特點
5.1.2 時序邏輯電路功能表示方法
5.1.3 時序邏輯電路分類
5.2 時序邏輯電路的分析和設計
5.2.1 時序邏輯電路的分析
5.2.2 時序邏輯電路的設計
5.3 計數器
5.3.1 計數器的特點和分類
5.3.2 二進制計數器
5.3.3 十進制計數器
5.3.4 N進制計數器
5.4 暫存器
5.4.1 暫存器的主要特點和分類
5.4.2 基本暫存器
5.4.3 移位暫存器
5.4.4 移位暫存器型N進制計數器
5.4.5 順序脈衝發生器
5.5 故障診斷和排查
5.5.1 集成計數器故障排查技術
5.5.2 級聯的計數器故障排查技術
5.5.3 觸發器構成的計數器故障排查技術
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第6章 脈衝發生與整形電路
6.1 脈衝信號基本參數
6.2 集成定時器
6.2.1 CC7555定時器
6.2.2 脈衝產生整形電路
6.3 多諧振盪器
6.3.1 用555定時器構成的多諧振盪器
6.3.2 石英晶體多諧振盪器
6.3.3 多諧振盪器套用舉例
6.4 施密特觸發器
6.4.1 用555定時器構成的施密特觸發器
6.4.2 集成施密特觸發器
6.4.3 施密特觸發器套用舉例
6.5 單穩態觸發器
6.5.1 用555定時器構成的單穩態觸發器
6.5.2 集成單穩態觸發器
6.5.3 單穩態觸發器套用舉例
6.6 故障診斷和排查
6.6.1 定時器的故障分析
6.6.2 脈衝發生電路的故障分析
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第7章 數模和模數轉換器
7.1 數字系統的構成
7.2 數模轉換器
7.2.1 數模轉換器的工作原理
7.2.2 權電阻數模轉換器
7.2.3 Ｔ型電阻網路數模轉換器
7.2.4 集成數模轉換器
7.2.5 數模轉換器的主要參數
7.3 模數轉換器
7.3.1 採樣保持和量化編碼
7.3.2 雙積分型模數轉換器
7.3.3 逐次漸近型模數轉換器
7.3.4 並聯比較型模數轉換器
7.3.5 集成模數轉換器
7.3.6 模數轉換器的主要參數
小結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
第8章 半導體存儲器和可程式邏輯器件
8.1 半導體存儲器
8.1.1 基本概念
8.1.2 半導體存儲器分類
8.2 唯讀存儲器（ROM）
8.2.1 唯讀存儲器結構和分類
8.2.2 唯讀存儲器的套用
8.3 隨機存取存儲器（RAM）
8.3.1 隨機存取存儲器結構與分類
8.3.2 存儲器容量的擴展
8.4 可程式邏輯器件（PLD）
8.4.1 PLD器件的分類
8.4.2 PLD電路的基本結構
8.4.3 可程式組合邏輯器件
8.4.4 PLD的設計流程
總結
關鍵術語
自我測試題
習題
實驗與實訓
附錄 Multisim10簡介
參考文獻
