本書可作為電路CAD技術人員、晶片和系統設計者以及測試工程師的參考資料，也可作為高等院校相關專業高年級本科生或研究生的教材
基本介紹
- 書名：數字系統測試與可測試設計
- 作者：(美)Miron Abramovici Melvin A.Breuer
- 定價：56
- 出版社：機械工業出版社
基本信息,目錄,
基本信息
ISBN:711119237
頁數:449
出版日期:2006-8-1
版次:
開本:184mm×260mm
包裝:平裝
簡介:本書系統介紹數字系統測試的理論和方法，深入探討測試生成、故障模型、故障模擬、可測試性設計、內建自測試等主題，包括該領域的最新進展，並提供大量支持實踐套用的理論資料。本書共分15章，前8章主要介紹基礎的測試理論和方法，包括數字系統、數字微系統晶片缺陷的來源、邏輯描述的方法、故障建模、故障模擬、測試單固定型故障、測試橋接故障、智慧型數字系統的功能測試及其範圍；第9～11章主要介紹數字系統的可測試性設計、內建自測試、測試數據壓縮等現代測試理論和方法；第12～15章主要討論一些高級測試理論和方法，包括邏輯級與系統級診斷、自校驗設計和可程式邏輯陣列測試。 .
目錄
譯者序
譯者簡介
中文版前言
前言
本書是如何寫出來的
第1章 緒論
第2章 建模
2.1 基本概念
2.2 邏輯級的功能建模
2.3 暫存器級的功能建模
2.4 結構模型
2.5 建模的層次
參考文獻
習題
第3章 邏輯模擬
3.1 套用
3.2 基於模擬設計驗證中的問題
3.3 模擬的類型
3.4 未知的邏輯值
3.5 編譯後模擬
3.6 事件驅動模擬
3.7 葉延模型
3.8 元件求值
3.9 冒險檢測
3.10 門級事件驅動模擬
3.11 模擬引擎
參考文獻
習題
第4章 故障模型
4.1 邏輯故障模型
4.2 故障檢測和冗餘
4.3 故障等價和故障定位
4.4 故障支配
4.5 單固定型故障模型
4.6 多固定型故障模型
4.7 固定的RTL變數
4.8 故障變數
參考文獻
習題
第5章 故障模擬
5.1 套用
5.2 通用故障模擬技術
5.3 組合電路的故障模擬
5.4 故障採樣
5.5 統計故障分析
5.6 本章小結
參考文獻
習題
第6章 單固定型故障測試
6.1 基本問題
6.2 組合電路中的單固定型故障的自動測試生成
6.3 時序電路SSF的ATC
6.4 本章小結
參考文獻
習題
第7章 橋接故障測試
7.1 橋接故障模型
7.2 無反饋橋接故障的檢測
7.3 橋接故障的檢測
7.4 橋接故障模擬
7.5 橋接故障的測試生成
7.6 本章小結
參考文獻
習題
第8章 功能測試
……
第9章 可測試性設計
第10章 測試壓縮技術
第11章 內建自測試
第12章 邏輯級診斷
第13章 自校驗設計
第14章 PLA測試
第15章 系統級診斷
索引
