接觸式非球面測量系統

接觸式非球面測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2007年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：接觸式非球面測量系統
• 產地：英國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2007年1月1日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 納米精度光柵檢定裝置

技術指標

類型：位相光柵干涉 測量量程：4mm（使用60mm長金剛石測桿，同時測量粗糙度和輪廓）8mm（使用120長球形測桿，測量輪廓）。

主要功能

測量球面、非球面、柱面的光學元件的表面粗糙度。