《掃描電子顯微鏡入門》是1985年科學出版社出版的圖書,作者是馬金鑫、朱國凱。
基本介紹
- 中文名:掃描電子顯微鏡入門
- 作者:馬金鑫、朱國凱
- 出版時間:1985年
- 出版社:科學出版社
- 類別:生物學
- CN:130312906
《掃描電子顯微鏡入門》是1985年科學出版社出版的圖書,作者是馬金鑫、朱國凱。
《掃描電子顯微鏡入門》是1985年科學出版社出版的圖書,作者是馬金鑫、朱國凱。內容簡介本書介紹了掃描電子顯微鏡的歷史、原理,生物掃描樣品的製備技術,以及掃描電子顯微鏡的操作技術等內容。全書文字深入淺出、通俗易懂。本書為中...
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用於高解析度微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、解析度高,成像直觀、立體感強、放大倍數範圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,...
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構;掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌,也能與X射線...
《電子顯微分析》是2006年清華大學出版社出版的圖書。《電子顯微分析》作為學習電子顯微分析技術的入門書,主要介紹透射電子顯微術(電子衍射、質厚襯度像、衍射襯度像)、掃描電子顯微術(包括背散射電子衍射和環境掃描顯微鏡)、電子探針和...
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端...
雷射掃描共聚焦顯微鏡(Laser scanning confocal microscope)是20世紀80年代中期發展起來並得到廣泛套用的新技術,它是雷射、電子攝像和計算機圖像處理等現代高科技手段滲透,並與傳統的光學顯微鏡結合產生的先進的細胞分子生物學分析儀器,在...
共聚焦雷射掃描顯微鏡(Confocal Laser Scanning Microscope,CLSM)是近十多年研製成的高光敏度、高解析度的新型儀器。它以雷射為光源,由共聚焦成像掃描系統、電子光學系統和微機圖像分析系統組成。光束經聚焦後落在樣品(組織厚片或細胞)不...
這種作用在TEM中被用作電子束移動的方式,而在掃描電子顯微鏡中起到了非常重要的作用。通過這兩種效應以及使用電子成像系統,可以對電子束通路進行足夠的控制。與光學顯微鏡不同,對TEM的光學配置可以非常快,這是由於位於電子束通路上的...
6.4 電子能量損失譜及其定量微觀分析 6.4.1 電子能量損失譜儀 6.4.2 電子能量損失譜 6.4.3 電子過濾成像和衍射 6.5 分析電子顯微學進展 6.5.1 負球差係數成像技術 6.5.2 定量掃描透射電子顯微術 6.5.3 電子全息術 參...
電子顯微鏡主要分為兩種類式:穿透式和掃描式。穿透式電子顯微鏡的操作原理類似高架式投影機,將電子束對準於樣品切片發射,穿透過的電子再用透鏡投影於底片或電荷耦合元件。掃描電子顯微鏡用聚焦的電子束掃描過樣品,就好像在顯示機內的光柵...
1、基於以上研究成果,我們提出了超精細結構的概念,即光學顯微鏡下能觀察到的組織稱為顯微組織,透射電鏡下觀察到的稱為精細結構,而掃描隧道顯微鏡所觀察的稱為超精細結構 2、在這裡所謂的顯微組織主要是指帶材的晶粒顯示和晶粒度大小等問題...
《材料電子顯微分析》是2012年冶金工業出版社出版的圖書,作者是張靜武。本書可作為高等學校材料專業的本科教材,以及機械、電子、化工、生物、醫學、地質等專業的參考書。內容簡介 主要內容有:透射電鏡和掃描電鏡試樣的製備、電子衍射原理及...
第三章 透射電子顯微分析 3.1 概述 3.2 電子與固體的相互作用 3.3 透射電鏡的構造與工作原理 3.4 電子衍射譜的特徵與分析 3.5 TEM顯微圖像襯度分析 3.6 試樣製備 習題與思考題 第四章 掃描電子顯微鏡與電子探針 4.1 掃描...
雷射掃描共聚焦螢光顯微鏡和雙光子雷射掃描螢光顯微鏡 雷射掃描共聚焦螢光顯微鏡 雙光子雷射掃描螢光顯微鏡 電子顯微鏡及其使用 透射電子顯微鏡技術 透射電子顯微鏡的原理、用途與使用方法 透射電子顯微鏡樣品製備(超薄切片)掃描電子顯微鏡技術 掃描...
掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是利用被測樣品表面附近近光場的特性,來探測其表面形貌。其解析度可遠遠超過常規顯微鏡解析度的限制(λ/2)。 目前半導體工業中常用的成像檢測方法主要包括自動光學檢測、X射線檢測、電子束檢測等。掃描電子顯微鏡(...
為了獲得更高的解析度以觀察更細微的內部結構,透射式電子顯微鏡在三十年代初研製成功,經過半個世紀的發展,它的解析度已接近或達到分辨單個原子的水平。後來,為了觀察凸凹不平的大塊試樣,掃描電子顯微鏡又應運而生。這些電子光學儀器不但...
8.5 電子探針分析方法及微區成分分析技術 第9章 材料表面分析技術 9.1 俄歇電子能譜分析 9.2 x射線光電子能譜分析 9.3 原子探針顯微分析 第10章 掃描探針顯微鏡 10.1 掃描探針顯微鏡(SPM)的基本原理 10.2 掃描隧道顯微鏡(STM)...