| 中文名稱 | 掃描探針顯微術 |
| 英文名稱 | scanning probe microscopy，SPM |
| 定 義 | 解析度在納米量級的測量固體樣品表面實空間形貌的分析方法。根據測量的相互作用類型，可分為掃描隧道顯微術、原子力顯微術、磁力顯微術等。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 掃描探針顯微術 |
| 英文名稱 | scanning probe microscopy，SPM |
| 定 義 | 解析度在納米量級的測量固體樣品表面實空間形貌的分析方法。根據測量的相互作用類型，可分為掃描隧道顯微術、原子力顯微術、磁力顯微術等。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
根據測量的相互作用類型,可分為掃描隧道顯微術、原子力顯微術、磁力顯微術等。 套用學科 材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級...
《掃描探針顯微技術理論與套用》是2007年化學工業出版社出版的圖書,作者是彭昌盛、谷慶寶。...
磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁互動作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 。...
掃描隧道顯微鏡 Scanning Tunneling Microscope 縮寫為STM。它作為一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡...
(包括背散射電子衍射和環境掃描顯微鏡)、電子探針和微分析(能譜與波譜)以及掃描探針顯微術(掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡),還定性介紹了高分辨電子顯微術、會聚束...
它作為一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以...
現代科技的不斷進步,包括微納加工技術和掃描探針顯微技術,極大的推動了近場光學顯微鏡的發展,出現各種反饋形式和工作方式的近場光學顯微鏡(反射式、透射式、多探針...
顯微鏡以顯微原理進行分類可分為偏光顯微鏡、光學顯微鏡與電子顯微鏡和數碼顯微鏡。...(普通光學顯微鏡)、暗視野顯微鏡、螢光顯微鏡、相差顯微鏡、雷射掃描共聚焦顯...
80年代以來, 隨著科學與技術向小尺度與低維空間的推進與掃描探針顯微技術的發展,在光學領域中出現了一個新型交叉學科——近場光學。近場光學對傳統的光學分辨極限...
主要研究方向為:功能分子納米結構的構築與表征、基於掃描探針顯微技術的納米表征方法、疾病相關的多肽組裝結構及其調控的分子機制等。主持多項國家級研究課題,如科技部...
王琛,男,中國科學院化學所研究員,2004年4月至今任國家納米科學中心研究員。現任國家納米科學中心主任。從事掃描隧道顯微術(STM)的原理及在單分子表征,分子自組裝,...
從20世紀80年代中期開始從事納米科技的重要領域月—月—掃描隧道顯微學的研究。研製成功掃描探針顯微鏡(SPM)系列。在納米結構、分子納米技術方面進行了較系統的工作 [...
進入 80 年代,非光學類掃描探針顯微術,特別是原子力顯微鏡(AFM)的出現更是將成像的解析度推進到納米的精度 。但是這些顯微術均在不同程度上存在系統結構複雜、成像...
3.3 掃描電鏡的工作原理3.4 掃描電鏡的構造3.5 掃描電鏡襯度像3.6 掃描電鏡的主要優勢3.7 掃描電鏡的制樣方法3.8 掃描電鏡套用實例第4章 掃描探針顯微分析技術...
掃描探針顯微技術、共焦顯微技術、條紋投影技術、柵格和莫爾技術、干涉顯微技術、雷射都卜勒測振技術、全息術、散斑測量術及光譜技術,同時還詳述了上述技術相關數據的...
學位回國後,開展表面增強拉曼光譜研究;孫世剛教授從法國獲得博士學位回國開展電催化和電化學紅外光譜研究;毛秉偉教授從英國獲得博士學位,開展電化學掃描探針顯微技術研究 ...
微納測試與加工技術;掃描探針顯微技術與儀器;現代分析儀器。李艷寧主要貢獻 編輯 科研項目、成果和專利作為主持人承擔國家自然科學基金項目2項,教育部留學回國人員科研...