基本介紹
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技術指標,主要功能,
掃描式電子顯微鏡及運費是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器,於2011年5月31日啟用。技術指標解析度:3.0nm(30kV);2.0nm(30kV);4.5nm(30kV)加速電壓:0.2-30...
掃描式透射電子顯微鏡,是一種光學儀器。掃描式透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscope)使用高亮度的冷電子光源,匯聚成極細的電子探針後對樣品進行掃描,然後收集穿過樣品的電子,同時在樣品正方裝有電子能量分析器。這種...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
首先將光聚焦成微小光點,然後掃描樣品,每一掃描點作為一像元,一組掃描點的信號經A/D轉換和圖像化處理後得到一組像元,即顯微像。掃描式顯微鏡的解析度取決於微小光點的大小,最大掃描範圍為90微米,位置精度為±0.01納米。當使用Φ...
掃描式電子顯微鏡系統 掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2011年3月10日啟用。技術指標 放大倍數30-300000,解析度3nm。主要功能 對材料進行微觀形貌分析。