基本介紹
- 中文名：拉曼成像
- 第一條：簡介
- 第二條：用途
- 第三條：套用案例
簡介,用途,雷射束掃描,多光譜同步測量,線形照明,套用案例,
簡介
憑藉優異的性能，雷射拉曼成像技術可以被廣泛的套用到電池、石墨烯、生物、材料、薄膜、單晶、藥物等研究領域。
創新性技術——實現高速、高分辨拉曼成像。
用途
雷射束掃描
拉曼成像使高速掃描成為可能，利用光束掃描的無震動和無漂移特點，成像更為清晰。
拉曼成像多光譜同步測量
高速、高解析度拉曼成像通過採用線形拉曼散射光獲得，每一條掃描線都含有400個獨立的光譜。
拉曼成像線形照明
高速高分辨拉曼成像系統採用線性照明，產生線形RAMAN散射光。
特殊的光學系統確保光強的均勻分布狹縫聚焦。
拉曼成像共聚焦光學系統實現高解析度拉曼成像。
同一共聚焦光學系統用於快速拉曼成像。
拉曼成像套用案例
快速區分單層與多層石墨烯
雷射源：532nm。
nanphoton石墨烯案例
nanphoton石墨烯案例物鏡：100X，NA=0.9。
光譜數：67，600（400*169）。
測量時間：5分30秒。
通過高速高分辨拉曼成像技術，可以對不同層數的石墨烯快速成像。
以350納米的高空間解析度，僅用5分鐘的測量時間即可識別從單層到四層的石墨烯及其分布。
材料應力分布
圖像解析度：320(x)×400(y)=128,000 Spectra。
nanphoton應力分布案例
nanphoton應力分布案例成像時間：16分鐘。
通過高速高分辨拉曼成像技術，可以探測到晶體結構的扭曲，如矽材料等。矽的Raman峰位於520cm。矽單晶中由於應力的作用，會造成晶格結構的偏離與扭曲。右圖通過測量Raman峰的偏離，進而給出了矽單晶表面應力的分布。
無損傷材料組分剖面分析
圖像解析度：300(x)×120(z)=36,000 Spectra。
nanphoton無損剖面分析案例
nanphoton無損剖面分析案例成像時間：8 分鐘。
右圖是通過高速高分辨拉曼成像技術的無損探測技術，對多層膜進行的深度剖析。通過聯用共聚焦光學系統與面掃描技術，可以成功地探測到深度圖像。
