快速雷射掃描面形測量儀

快速雷射掃描面形測量儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年6月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：快速雷射掃描面形測量儀
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年6月28日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

（1）導軌長度大於300mm，可測試母線長度230mm長的柱面元件，

（2）可測量柱面半徑50~200mm，

（3）測量精度（slope error）2-3角秒

（4）測量速度不50mm/s，

（5）數據採樣空間頻率230微米。

主要功能

該設備可以用來快速表征測量大口徑標準柱面和非標準柱面反射鏡的面形精度，主要套用在超薄玻璃熱彎成型反射鏡。