微波暗室及測量系統是一種用於電子與通信技術領域的特種檢測儀器，於2014年6月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：微波暗室及測量系統
- 產地：中國
- 學科領域：電子與通信技術
- 啟用日期：2014年6月3日
- 所屬類別：特種檢測儀器 > 超聲檢測儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
微波暗室禁止殼體內部尺寸：8m（長）×4m（寬）×3.3m（高） 貼滿吸波材料後內部淨空間：6.6m（長）×2.8m（寬）×2.4m（高） 靜區為：1GHz≥60cm 靜區反射電平： 800MHz～1GHz，≤-35dB、1GHz～3GHz，≤-40dB、3GHz～6GHz≤-45dB 幅度紋波測試結果小於±0.8dB。 多徑損耗:在800MHz-6GHz範圍內，±0.25dB 禁止效能： 頻率禁止效能 14kHz＞60dB磁場 100kHz＞80dB磁場 100kHz＞100dB電場 1MHz＞100dB磁場 1MHz＞100dB電場 100MHz＞100dB電場 1GHz＞100dB平面波 10GHz＞100dB微波 18.6GHz＞100dB微波。
主要功能
該系統可以在有限的室內空間範圍內實現無限大（外場）場區的遠場真實測量效果。也可以用來進行電磁仿真，模擬空間電磁波的傳播，干擾信號的形成、抑制，第四、五代移動通訊系統中的空間信號檢測（DOA技術），通信、雷達、汽車電子、廣播電視天線的縮比測量，空間目標的探測、識別，合成孔徑雷達系統成像，智慧型相控陣天線測量和雷達信號處理方面的研究。也可以用於新型材料電磁特性測量如：電磁超材料、人工磁導體、高阻抗表面、頻率選擇表面等材料的吸波、反射、表面繞射、散射、電磁損耗等特性。各種理論方法的實驗驗證等。
