無源互調PIM是由天線發射系統中各種無源器件的非線性特性引起的。在大功率、多信道系統中，由於其大功率特性，使傳統的無源線性器件產生較強的非線性效應，這些無源器件的非線性會產生相對於工作頻率的更高次諧波，這些諧波與工作頻率混合會產生一組新的頻率，其最終結果就是在空中產生一組無用的頻譜(PIM3,PIM5,PIM7…),若這些互調產物落在發射或接收波段區間，並且這些互調產物的功率超過系統中有用信號的最小幅度，就會影響正常的通信。
通常如果條件允許，天線PIM電平測量可在室外完成。在進行這種測試時，必須滿足政府規章中允許的射頻輻射電平要求，另外，來自於AUT的射頻能量輻射，可能在周圍物體上產生PIM,並反射到天線中，導致天線PIM測試結果存在誤差，同時來自於外部的射頻輻射也可能會干擾測試質量，因此為準確測量天線PIM電平，測試應當在一個低PIM測試環境的電波暗室(也稱為無源互調檢測暗室，互調檢測暗室，無源互調暗室，PIM暗室或PIMtest Chamber)里進行，這樣可減少或消除很多影響因素。
影響天線產品PIM測試結果的因素,PIM精準測量的暗室主要技術指標,
影響天線產品PIM測試結果的因素
影響天線產品的PIM測試結果的因素包括以下幾個方面：
a）暴露在AUT輻射場中的導電材料；
b）AUT的安裝附屬檔案出現鬆動、損壞或腐蝕；
c）暴露在來自AUT輻射的射頻場中的鬆動或腐蝕的附屬檔案；
d）測試系統外部的無線電射頻信號；
e）性能很差的同軸接口電纜；
f）接口連線處存在骯髒、污染、磨損；
g）接口連線不當；
h）射頻接口連線禁止不善；
i）來自於測試設備的未經過濾的有源互調。
PIM精準測量的暗室主要技術指標
用於BTS天線無源互調電平(PIM)精準測量的暗室主要技術指標
(Changning PIM-antchamber)
Changning antenna PIM Test Chamber Technical Specifications
l 異性外觀，幕牆色彩工業設計
l 滿足無源基站天線與有源基站天線PIM3電平測量所需的環境
l 暗室工作頻率範圍: 400MHz – 18GHz
l 暗室禁止效能 >100dB @ 400MHz – 18GHz
l 暗室本底PIM電平 < -165dBc [email protected] (測試頻段 700MHz~6GHz)
l 優質國產700MM+500MM吸波海綿，高阻燃性能，連續照射承受功率容量1kw/m2
l 全手工打造木製天線測試架與測試平台
