微波暗室測試系統是一種用於材料科學、動力與電氣工程、電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2016年11月17日啟用。
基本介紹
- 中文名：微波暗室測試系統
- 產地：中國
- 學科領域：材料科學、動力與電氣工程、電子與通信技術
- 啟用日期：2016年11月17日
- 所屬類別：電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器 > 射頻和微波測量系統
技術指標,主要功能,
技術指標
1、 天線測試： 測試頻段：1GHz-40GHz； 測試精度：優於0.5dB； 增益測量精度：優於0.1dB； 2、 天線罩測試：（大小φ≤600mm，重量≤80Kg） 測試頻段：1GHz-40GHz； 測試精度：瞄準誤差優於1mrad，透波率、方向圖優於0.2dB； 3、 平板材料反射率、透波性能測試； 測試頻段：1GHz-40GHz； 測試精度：經標校數據處理後：在1GHz以上精度優於1dB，5GHz以上精度優於0.5dB，10GHz以上精度優於0.2dB。
主要功能
天線、天線罩、微波材料的近、遠場電性能測試。
