基本介紹
- 中文名：平頭電極
- 外文名：Flat tip
- 分類：化工
電極,平頭電極乾濕法測定頭髮微量元素的含量,測試條件,標準溶液,樣品處理,測試方法,平頭電極發射光譜分析法測定樣品中痕量銀,不同電極對分析結果精密度的影響,痕量級銀的分析標準確定,分析方法質量評估,
電極
電極是原電池的基本組成部分。利用自發氧化還原反應產生電流的裝置叫原電池，一個原電池必須由兩個基本部分組成：兩個電極和電解質溶液。給出電子發生氧化反應的電極，如丹尼爾電池中的Zn極，由於其電勢較低，被稱為負極（negativeelectrode）；而接受電子發生還原反應的一極，如Cu極，由於其電勢較高，而稱作正極（positiveelectrode）。
根據組成電極物質的狀態，可以把電極分為三類。第一類電極是金屬電極和氣體電極，如丹尼爾電池中鋅電極和銅電極，還有標準氫電極；第二類電極是金屬-金屬難溶鹽電極及金屬-金屬難溶氧化物電極，如Ag-AgCl電極。第三類電極是氧化還原電極（任一電極皆為氧化還原電極，這裡所說的氧化還原電極是專指參加電極反應的物質均在同一個溶液中），如Fe3+，Fe2+溶液組成的電極。
平頭電極乾濕法測定頭髮微量元素的含量
採用灰化-乾濕結合法消化頭髮以平頭端面電極代替穴電極原子發射光譜法測定發樣ZnCu Fe Mn Ca Mg Pb 元素其檢測限Zn1µg/g，Cu0.2µg/g，Mn0.2µg/g，Fe0.2µg/g，回收率為98%-108.0%，RSD在9%～14.2%之間能滿足分析需要且已實測發樣800餘例。
測試條件
選用狹縫隙12µm，遮光板3.2mm，電壓220V，電流5A，曝光時間50秒。天津紫外I 型光譜相板，按廠方提供的配方，在A+B 顯影液中溫度20℃、顯影2.5 分鐘、F-5定影液定影至空白處透明。
標準溶液
固定稱量光譜純CuO，MnO2，Fe2O3，ZnO，MgO，分析純CaCO3分別配製如下濃度的儲備標準Cu：1mg/g，Mn：1mg/g，Fe：1mg/g，Zn： 2mg/g，Mg：10mg/g，Ca：100mg/g。
樣品處理
統一採取枕部長發0.1g，經5%‘’白貓‘’洗潔精於60下浸泡5小時，用自來水洗至無泡沫，用蒸餾水洗3次再用重蒸餾水洗3次，在紅外燈下烘乾，溫度不宜過高。碎樣，稱量100mg，於一洗淨試管。加入4：1HNO3-HClO40.4ml，移入自製空氣浴裝置中加熱，至樣品呈乾燥白灰狀，約40分鐘。冷卻後用4滴1：1HNO3溶解，將溶解試樣（約0.2ml）全部轉移到一對平頭電極上，同時，標準溶液的滴加體積也為0.2毫升，經紅外線燈乾燥，攝譜。在8W型光譜投影儀下查譜，用蔡氏‖測微光度計的W標尺測定標準及試樣的絕對黑度，以W-lgC作工作曲線，用標準曲線法或線性回歸法定量。
測試方法
將傳統的測試方法做了二項改進，1、首次提出採用乾濕聯合試管消解樣品，與乾法、 濕法相比，使樣品的消化時間大大縮短，試樣和試劑用量減少，操作難度降低，提高了效率。2、將AES的杯形電極改為平頭電極，提高了方法的靈敏度，減少了採樣量，簡化了分析過程，減少了操作失誤的可能性。套用原子發射光譜攝譜法一次可同時測定發樣中七個微量元素。運用本法對樂清某校的師生800餘例實測表明：這是一種適於處理大批量樣品的快速檢測辦法，具有較好的套用價值。
平頭電極發射光譜分析法測定樣品中痕量銀
採用平頭電極原子發射光譜分析法測定痕量銀比用尖頭電極分析結果的精密度顯著提高。以國家標準樣品作為低含量銀的測定標準，成功地避免了樣品粘污，方法檢出限為0.01μg。經過7000餘件地球化學樣品中銀的測定證 明，該方法分析結果準確可靠。
不同電極對分析結果精密度的影響
原子發射光譜分析法中所採用的上電極大多數是尖頭的錐狀上電極，其分析結果重現性較差，因此很少用此方法進行定量分析。實驗中，在相同儀器條件下，採用不同電極分別對同一樣品進行多次攝譜，測定其P值可見，採用尖頭電極攝譜的相對偏差為δ14 2.81%。產生這一結果的原因是，由於起弧時，強大的電極施加在兩電極之間，採用尖頭錐狀電極，在起弧的一剎那間，強大的電流集中在電極中心，下電極中心處樣品由於電極起弧衝擊使樣品產生噴濺，並且曝光僅有短短的15s，因而分析結果的重現性就差，用平頭電極之後，起弧是在直徑6mm的電極平面進行，整個電弧較尖頭電極平穩，很少有噴濺出現，因而分析結果的重現性要好一些。因此，實驗中，採用平頭電極使分析的重現性可以滿足化探樣品中痕量銀的分析測定需要。
痕量級銀的分析標準確定
發射光譜分析所用標準配製一般是採用 “ 空礦 ” 做為基體，加上所要分析的元素而成的，但是，對銀而言，無論是 “ 空礦 ” 樣品，還是 si、Fe、A I等試劑，都含有幾十個納克級的銀，這么大的空白，使分析下限很高，難以滿足地球化學探礦對銀痕量級分析的要求，低含量銀的標準確定是一個非常重要的問題，實驗中，選用國家一級標準物質作為痕 量級銀的測定標準，巧妙的消除了通常配製標準的作法所帶來的基體中銀的干擾，使分析結果更接近真值，同時，對地球化學樣品的測定，選擇地質一級標樣為標準，其基體與待測樣品很接近，避免了基體間差異過大而引起的分析誤差，提高了分析結果準確性。
分析方法質量評估
取同一樣品經20次攝譜分析，統計出該方法對化探樣品測定的相對標準偏差RSD為4.45%，按照IUPAC和JACS推薦的定義和公式SL= L0十Kδ，當K取3時，銀的檢出限為0.01x10-6。銀的測量範圍為0.04X10-6~15x10-6，在對1500件樣品分析中，每50個樣品為一個批，每批插入二級化探標準樣3個，以檢查分析質量，對三個二級管理樣的多次分析結果統計方法的單資測定值與推薦值的最大偏差在12% 以內，平均值與推薦值很接近，正負偏差出現的幾率均等，為了進一步保證分析結果的正確性，實際樣品測定中都是攝雙份樣品，報出平均值。
隨機抽取10個樣品 進行不同分析方法間分析結果對照可見方法之間、實驗室之間無系統誤差，經過7000餘件化探樣品測試考驗，證明平頭電極發射光譜分析法測定痕量銀的方法是準確可靠的。
