《干涉型光纖感測用光電子器件技術》是2012年科學出版社出版的圖書，作者是王巍、丁東發、夏君磊。
基本介紹
- 書名：干涉型光纖感測用光電子器件技術
- 作者：王巍、丁東發、夏君磊
- ISBN：9787030362025
- 頁數：387
- 定價：98.00元
- 出版社：科學出版社
- 出版時間：2012-08-01
- 裝幀：精裝
- 開本：16開
內容簡介,作品目錄,作品影響,
內容簡介
《干涉型光纖感測用光電子器件技術》以干涉型光纖感測器的套用需求和光電子器件自身特性為基礎，以兩者之間的關係為主線，著重論述干涉型光纖感測用光電子器件的設計、工藝、測試、特性及套用要求。首先介紹干涉型光纖感測器的原理、分類及套用特點，闡述干涉型光纖感測用光電子器件的分類及特點，然後對光電子器件相關技術進行重點論述，包括光纖、光纖耦合器、光纖偏振器件、相位調製器、光源、探測器及其他光電子器件，最後論述光纖感測用光電子器件的可靠性技術。
《干涉型光纖感測用光電子器件技術》可供從事干涉型光纖感測及光電子器件技術研究、產品研製與套用的科技人員和高等院校相關專業師生參考。
作品目錄
序
前言
第1章 緒論
1.1 光纖感測技術發展歷程
1.1.1 干涉型光纖感測器的發展
1.1.2 光纖光柵感測器的發展
1.1.3 分散式光纖感測器的發展
1.1.4 其他類型光纖感測器
1.2 光纖感測器的分類
1.3 光纖感測技術中涉及的典型物理效應
1.4 光纖干涉儀原理及特點
1.4.1 邁克耳孫干涉儀
1.4.2 馬赫-曾德爾干涉儀
1.4.3 薩格納克干涉儀
1.4.4 法布里-珀羅干涉儀
1.5 干涉型光纖感測器相位解調方法
1.5.1 零差相位解調法
1.5.2 外差解調法
1.6 干涉型光纖感測用光電子器件
1.6.1 干涉型光纖感測用光電子器件分類及特點
1.6.2 光纖感測系統設計與光電子器件的關係
1.6.3 干涉型光纖感測用光電子器件發展及套用中的主要技術問題
參考文獻
第2章 干涉型光纖感測器及其光電子器件的技術特點
2.1 邁克耳孫干涉型光纖感測器及其典型套用
2.1.1 邁克耳孫干涉型光纖水聽器
2.1.2 邁克耳孫干涉型光纖加速度感測器
2.1.3 邁克耳孫干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.2 馬赫-曾德爾干涉型光纖感測器及其典型套用
2.2.1 馬赫-曾德爾干涉型光纖水聽器
2.2.2 馬赫-曾德爾干涉型光纖擾動感測器
2.2.3 馬赫-曾德爾干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.3 薩格納克干涉型光纖感測器及其典型套用
2.3.1 干涉型光纖陀螺儀
2.3.2 光纖電流互感器
2.3.3 薩格納克干涉型分散式光纖感測器
2.3.4 薩格納克干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.4 法布里-珀羅干涉型光纖感測器及其典型套用
2.4.1 法布里-珀羅干涉型光纖溫度感測器
2.4.2 法布里-珀羅干涉型光纖應變感測器
2.4.3 法布里-珀羅干涉型光纖壓力感測器
2.4.4 法布里-珀羅干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.5 白光干涉型光纖感測器及其典型套用
2.5.1 基於掃描干涉儀的白光干涉型光纖感測器
2.5.2 光譜域白光干涉型光纖感測器
2.5.3 白光干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
參考文獻
第3章 光纖及其在干涉型光纖感測中的套用技術
3.1 光纖的結構與分類
3.1.1 單模光纖
3.1.2 保偏光纖
3.2 光纖性能參數及測試方法
3.2.1 光學特性參數
3.2.2 幾何特性參數
3.2.3 機械特性參數
3.3 光纖製備工藝
3.3.1 單模光纖製備工藝
3.3.2 保偏光纖製備工藝
3.3.3 抗輻照保偏光纖製備工藝
3.4 光纖的特性及干涉型光纖感測套用要求
3.4.1 干涉型光纖感測用光纖的分類及套用要求
3.4.2 三種應力型保偏光纖的特點
3.4.3 光纖的套用環境適應性
3.5 光纖在干涉型光纖感測中套用的主要物理效應
3.5.1 光纖中的光波偏振交叉耦合
3.5.2 光纖的非線性效應
3.5.3 光纖的法拉第效應
3.5.4 光纖的彈光效應
3.5.5 光纖的熱光效應
3.6 光纖環技術
3.6.1 光纖陀螺儀光纖敏感環
3.6.2 光纖電流互感器光纖敏感環
3.6.3 光纖水聽器光纖敏感環
3.6.4 光纖延時環
3.7 光子晶體光纖
3.7.1 光子晶體光纖的概念和工作原理
3.7.2 光子晶體光纖的主要特性
3.7.3 光子晶體保偏光纖的設計、製備及特點
3.7.4 光子晶體光纖在光纖感測中的套用
參考文獻
第4章 光纖耦合器
4.1 光纖耦合器工作原理
4.2 光纖耦合器主要性能參數及測試方法
4.3 2×2光纖耦合器性能參數設計與製備工藝
4.3.1 光纖耦合器主要光學性能參數設計
4.3.2 光纖耦合器製備工藝
4.4 干涉型光纖感測用光纖耦合器的特性及套用要求
4.4.1 單模光纖耦合器的主要特性
4.4.2 保偏光纖耦合器的主要特性
4.4.3 光纖耦合器的套用要求
4.5 其他類型耦合器
4.5.1 3×3(1×3)光纖耦合器
4.5.2 光纖波分復用器
4.5.3 微光元件型耦合器
4.5.4 集成光波導型耦合器
參考文獻
第5章 光纖偏振器件
5.1 光纖偏振器
5.1.1 光纖偏振器工作原理
5.1.2 光纖偏振器分類
5.1.3 光纖偏振器性能參數及測試方法
5.1.4 光纖偏振器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.2 光纖消偏器
5.2.1 光纖消偏器工作原理
5.2.2 光纖消偏器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.3 光纖隔離器
5.3.1 光纖隔離器工作原理與結構
5.3.2 光纖隔離器性能參數及測試方法
5.3.3 光纖隔離器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.4 光纖環行器
5.4.1 光纖環行器工作原理
5.4.2 光纖環行器性能參數及測試方法
5.4.3 光纖環行器在干涉型光纖感測中的套用要求
參考文獻
第6章 相位調製器
6.1 相位調製原理
6.1.1 電光相位調製
6.1.2 彈光相位調製
6.1.3 聲光相位調製
6.2 Ti擴散LiNbO3相位調製器
6.2.1 主要性能參數及設計
6.2.2 Ti擴散LiNbO3電光相位調製器製備工藝
6.2.3 干涉型光纖感測用Ti擴散LiNbO3相位調製器的特性及套用要求
6.3 質子交換LiNbO3相位調製器
6.3.1 Y型質子交換LiNbO3相位調製器設計
6.3.2 質子交換LiNbO3相位調製器製備工藝
6.3.3 干涉型光纖感測用質子交換LiNbO3相位調製器的特性及套用要求
6.4 壓電陶瓷相位調製器
6.4.1 壓電陶瓷相位調製器原理
6.4.2 壓電陶瓷相位調製器設計
6.4.3 干涉型光纖感測用PZT相位調製器的特性及套用要求
參考文獻
第7章 其他光無源器件
7.1 光纖自聚焦透鏡
7.1.1 光纖自聚焦透鏡的工作原理與光學特性
7.1.2 光纖自聚焦透鏡的主要性能參數
7.1.3 光纖自聚焦透鏡在干涉型光纖感測中的套用要求
7.2 光纖準直器
7.2.1 光纖準直器的分類
7.2.2 光纖準直器的結構與設計
7.2.3 光纖準直器在干涉型光纖感測中的套用要求
7.3 光纖濾波器
7.3.1 M-Z光纖濾波器
7.3.2 F-P光纖濾波器
7.3.3 光纖光柵濾波器
7.3.4 光纖濾波器在干涉型光纖感測中的套用要求
7.4 光纖反射鏡
7.4.1 光纖環路反射鏡
7.4.2 介質膜光纖反射鏡
7.4.3 金屬膜光纖反射鏡
7.4.4 光纖法拉第旋轉反射鏡
7.4.5 光纖反射鏡在干涉型光纖感測中的套用要求
7.5 光纖光柵
7.5.1 布拉格光纖光柵
7.5.2 光纖光柵的製備
7.5.3 光纖光柵的主要性能參數
7.5.4 光纖光柵在干涉型光纖感測中的套用要求
參考文獻
第8章 半導體光源器件
8.1 半導體雷射器工作原理
8.1.1 光的自發輻射、受激輻射與受激吸收
8.1.2 閾值條件
8.2 半導體光源的分類與結構
8.2.1 雷射二極體
8.2.2 發光二極體
8.2.3 超輻射發光二極體
8.3 半導體光源設計與工藝
8.3.1 半導體光源的材料
8.3.2 半導體光源主要性能參數設計
8.3.3 半導體光源組件的結構及封裝
8.3.4 半導體光源組件工藝
8.4 干涉型光纖感測用半導體光源的特性及套用要求
8.4.1 半導體光源的主要特性
8.4.2 半導體光源的套用要求
參考文獻
第9章 摻鉺光纖有源器件
9.1 摻鉺光纖有源器件工作原理
9.1.1 摻鉺光纖的工作原理及特性
9.1.2 超螢光摻鉺光纖光源的工作原理
9.1.3 摻鉺光纖雷射器的工作原理
9.2 摻鉺光纖有源器件用光電子器件
9.3 超螢光摻鉺光纖光源
9.3.1 超螢光摻鉺光纖光源的結構
9.3.2 超螢光摻鉺光纖光源的主要性能參數
9.3.3 超螢光摻鉺光纖光源設計
9.3.4 干涉型光纖感測用超螢光摻鉺光纖光源的特性及套用要求
9.4 摻鉺光纖雷射器
9.4.1 摻鉺光纖雷射器的特點及分類
9.4.2 摻鉺光纖雷射器主要性能參數
9.4.3 DBR摻鉺光纖雷射器設計
9.4.4 干涉型光纖感測用摻鉺光纖雷射器的特性及套用要求
參考文獻
第10章 光電探測器
10.1 光電探測器工作原理
10.1.1 光電轉換原理
10.1.2 PN結光電二極體
10.2 PIN光電探測器組件
10.2.1 PIN光電二極體及光電探測器組件
10.2.2 PIN光電探測器組件主要性能參數及測試
10.2.3 PIN光電探測器組件設計與工藝
10.2.4 干涉型光纖感測用PIN光電探測器組件的特性及套用要求
10.3 雪崩光電二極體
10.3.1 APD的工作原理
10.3.2 APD的結構
10.3.3 干涉型光纖感測用APD光電探測器的特性及套用要求
參考文獻
第11章 光電子器件可靠性技術
11.1 光電子器件套用環境條件
11.2 光電子器件主要失效模式及機理
11.2.1 光纖的主要失效模式及機理
11.2.2 光纖耦合器的主要失效模式及機理
11.2.3 集成光學相位調製器的主要失效模式及機理
11.2.4 半導體光源組件的主要失效模式及機理
11.2.5 光電探測器組件的主要失效模式及機理
11.3 光電子器件典型環境適應性試驗
11.3.1 溫度環境適應性試驗
11.3.2 力學環境適應性試驗
11.3.3 熱真空環境適應性試驗
11.3.4 輻照環境適應性試驗
11.4 光電子器件可靠性篩選
11.4.1 光電子器件可靠性篩選條件
11.4.2 光電子器件可靠性篩選方法
11.4.3 光電子器件可靠性篩選項目
11.5 光電子器件可靠性試驗
11.6 光電子器件壽命預計與評估方法
11.6.1 產品可靠性指標及光纖感測器MTBF預計
11.6.2 光電子器件壽命預計及試驗設計
11.6.3 光電子器件加速壽命試驗失效判據
11.6.4 光電子器件加速壽命試驗方法
11.6.5 光電子器件MTTF的統計法
11.6.6 光纖壽命預計
參考文獻
附錄 縮略語
索引
第1章 緒論
1.1 光纖感測技術發展歷程
1.1.1 干涉型光纖感測器的發展
1.1.2 光纖光柵感測器的發展
1.1.3 分散式光纖感測器的發展
1.1.4 其他類型光纖感測器
1.2 光纖感測器的分類
1.3 光纖感測技術中涉及的典型物理效應
1.4 光纖干涉儀原理及特點
1.4.1 邁克耳孫干涉儀
1.4.2 馬赫-曾德爾干涉儀
1.4.3 薩格納克干涉儀
1.4.4 法布里-珀羅干涉儀
1.5 干涉型光纖感測器相位解調方法
1.5.1 零差相位解調法
1.5.2 外差解調法
1.6 干涉型光纖感測用光電子器件
1.6.1 干涉型光纖感測用光電子器件分類及特點
1.6.2 光纖感測系統設計與光電子器件的關係
1.6.3 干涉型光纖感測用光電子器件發展及套用中的主要技術問題
參考文獻
第2章 干涉型光纖感測器及其光電子器件的技術特點
2.1 邁克耳孫干涉型光纖感測器及其典型套用
2.1.1 邁克耳孫干涉型光纖水聽器
2.1.2 邁克耳孫干涉型光纖加速度感測器
2.1.3 邁克耳孫干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.2 馬赫-曾德爾干涉型光纖感測器及其典型套用
2.2.1 馬赫-曾德爾干涉型光纖水聽器
2.2.2 馬赫-曾德爾干涉型光纖擾動感測器
2.2.3 馬赫-曾德爾干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.3 薩格納克干涉型光纖感測器及其典型套用
2.3.1 干涉型光纖陀螺儀
2.3.2 光纖電流互感器
2.3.3 薩格納克干涉型分散式光纖感測器
2.3.4 薩格納克干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.4 法布里-珀羅干涉型光纖感測器及其典型套用
2.4.1 法布里-珀羅干涉型光纖溫度感測器
2.4.2 法布里-珀羅干涉型光纖應變感測器
2.4.3 法布里-珀羅干涉型光纖壓力感測器
2.4.4 法布里-珀羅干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
2.5 白光干涉型光纖感測器及其典型套用
2.5.1 基於掃描干涉儀的白光干涉型光纖感測器
2.5.2 光譜域白光干涉型光纖感測器
2.5.3 白光干涉型光纖感測器用光電子器件的技術特點
參考文獻
第3章 光纖及其在干涉型光纖感測中的套用技術
3.1 光纖的結構與分類
3.1.1 單模光纖
3.1.2 保偏光纖
3.2 光纖性能參數及測試方法
3.2.1 光學特性參數
3.2.2 幾何特性參數
3.2.3 機械特性參數
3.3 光纖製備工藝
3.3.1 單模光纖製備工藝
3.3.2 保偏光纖製備工藝
3.3.3 抗輻照保偏光纖製備工藝
3.4 光纖的特性及干涉型光纖感測套用要求
3.4.1 干涉型光纖感測用光纖的分類及套用要求
3.4.2 三種應力型保偏光纖的特點
3.4.3 光纖的套用環境適應性
3.5 光纖在干涉型光纖感測中套用的主要物理效應
3.5.1 光纖中的光波偏振交叉耦合
3.5.2 光纖的非線性效應
3.5.3 光纖的法拉第效應
3.5.4 光纖的彈光效應
3.5.5 光纖的熱光效應
3.6 光纖環技術
3.6.1 光纖陀螺儀光纖敏感環
3.6.2 光纖電流互感器光纖敏感環
3.6.3 光纖水聽器光纖敏感環
3.6.4 光纖延時環
3.7 光子晶體光纖
3.7.1 光子晶體光纖的概念和工作原理
3.7.2 光子晶體光纖的主要特性
3.7.3 光子晶體保偏光纖的設計、製備及特點
3.7.4 光子晶體光纖在光纖感測中的套用
參考文獻
第4章 光纖耦合器
4.1 光纖耦合器工作原理
4.2 光纖耦合器主要性能參數及測試方法
4.3 2×2光纖耦合器性能參數設計與製備工藝
4.3.1 光纖耦合器主要光學性能參數設計
4.3.2 光纖耦合器製備工藝
4.4 干涉型光纖感測用光纖耦合器的特性及套用要求
4.4.1 單模光纖耦合器的主要特性
4.4.2 保偏光纖耦合器的主要特性
4.4.3 光纖耦合器的套用要求
4.5 其他類型耦合器
4.5.1 3×3(1×3)光纖耦合器
4.5.2 光纖波分復用器
4.5.3 微光元件型耦合器
4.5.4 集成光波導型耦合器
參考文獻
第5章 光纖偏振器件
5.1 光纖偏振器
5.1.1 光纖偏振器工作原理
5.1.2 光纖偏振器分類
5.1.3 光纖偏振器性能參數及測試方法
5.1.4 光纖偏振器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.2 光纖消偏器
5.2.1 光纖消偏器工作原理
5.2.2 光纖消偏器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.3 光纖隔離器
5.3.1 光纖隔離器工作原理與結構
5.3.2 光纖隔離器性能參數及測試方法
5.3.3 光纖隔離器在干涉型光纖感測中的套用要求
5.4 光纖環行器
5.4.1 光纖環行器工作原理
5.4.2 光纖環行器性能參數及測試方法
5.4.3 光纖環行器在干涉型光纖感測中的套用要求
參考文獻
第6章 相位調製器
6.1 相位調製原理
6.1.1 電光相位調製
6.1.2 彈光相位調製
6.1.3 聲光相位調製
6.2 Ti擴散LiNbO3相位調製器
6.2.1 主要性能參數及設計
6.2.2 Ti擴散LiNbO3電光相位調製器製備工藝
6.2.3 干涉型光纖感測用Ti擴散LiNbO3相位調製器的特性及套用要求
6.3 質子交換LiNbO3相位調製器
6.3.1 Y型質子交換LiNbO3相位調製器設計
6.3.2 質子交換LiNbO3相位調製器製備工藝
6.3.3 干涉型光纖感測用質子交換LiNbO3相位調製器的特性及套用要求
6.4 壓電陶瓷相位調製器
6.4.1 壓電陶瓷相位調製器原理
6.4.2 壓電陶瓷相位調製器設計
6.4.3 干涉型光纖感測用PZT相位調製器的特性及套用要求
參考文獻
第7章 其他光無源器件
7.1 光纖自聚焦透鏡
7.1.1 光纖自聚焦透鏡的工作原理與光學特性
7.1.2 光纖自聚焦透鏡的主要性能參數
7.1.3 光纖自聚焦透鏡在干涉型光纖感測中的套用要求
7.2 光纖準直器
7.2.1 光纖準直器的分類
7.2.2 光纖準直器的結構與設計
7.2.3 光纖準直器在干涉型光纖感測中的套用要求
7.3 光纖濾波器
7.3.1 M-Z光纖濾波器
7.3.2 F-P光纖濾波器
7.3.3 光纖光柵濾波器
7.3.4 光纖濾波器在干涉型光纖感測中的套用要求
7.4 光纖反射鏡
7.4.1 光纖環路反射鏡
7.4.2 介質膜光纖反射鏡
7.4.3 金屬膜光纖反射鏡
7.4.4 光纖法拉第旋轉反射鏡
7.4.5 光纖反射鏡在干涉型光纖感測中的套用要求
7.5 光纖光柵
7.5.1 布拉格光纖光柵
7.5.2 光纖光柵的製備
7.5.3 光纖光柵的主要性能參數
7.5.4 光纖光柵在干涉型光纖感測中的套用要求
參考文獻
第8章 半導體光源器件
8.1 半導體雷射器工作原理
8.1.1 光的自發輻射、受激輻射與受激吸收
8.1.2 閾值條件
8.2 半導體光源的分類與結構
8.2.1 雷射二極體
8.2.2 發光二極體
8.2.3 超輻射發光二極體
8.3 半導體光源設計與工藝
8.3.1 半導體光源的材料
8.3.2 半導體光源主要性能參數設計
8.3.3 半導體光源組件的結構及封裝
8.3.4 半導體光源組件工藝
8.4 干涉型光纖感測用半導體光源的特性及套用要求
8.4.1 半導體光源的主要特性
8.4.2 半導體光源的套用要求
參考文獻
第9章 摻鉺光纖有源器件
9.1 摻鉺光纖有源器件工作原理
9.1.1 摻鉺光纖的工作原理及特性
9.1.2 超螢光摻鉺光纖光源的工作原理
9.1.3 摻鉺光纖雷射器的工作原理
9.2 摻鉺光纖有源器件用光電子器件
9.3 超螢光摻鉺光纖光源
9.3.1 超螢光摻鉺光纖光源的結構
9.3.2 超螢光摻鉺光纖光源的主要性能參數
9.3.3 超螢光摻鉺光纖光源設計
9.3.4 干涉型光纖感測用超螢光摻鉺光纖光源的特性及套用要求
9.4 摻鉺光纖雷射器
9.4.1 摻鉺光纖雷射器的特點及分類
9.4.2 摻鉺光纖雷射器主要性能參數
9.4.3 DBR摻鉺光纖雷射器設計
9.4.4 干涉型光纖感測用摻鉺光纖雷射器的特性及套用要求
參考文獻
第10章 光電探測器
10.1 光電探測器工作原理
10.1.1 光電轉換原理
10.1.2 PN結光電二極體
10.2 PIN光電探測器組件
10.2.1 PIN光電二極體及光電探測器組件
10.2.2 PIN光電探測器組件主要性能參數及測試
10.2.3 PIN光電探測器組件設計與工藝
10.2.4 干涉型光纖感測用PIN光電探測器組件的特性及套用要求
10.3 雪崩光電二極體
10.3.1 APD的工作原理
10.3.2 APD的結構
10.3.3 干涉型光纖感測用APD光電探測器的特性及套用要求
參考文獻
第11章 光電子器件可靠性技術
11.1 光電子器件套用環境條件
11.2 光電子器件主要失效模式及機理
11.2.1 光纖的主要失效模式及機理
11.2.2 光纖耦合器的主要失效模式及機理
11.2.3 集成光學相位調製器的主要失效模式及機理
11.2.4 半導體光源組件的主要失效模式及機理
11.2.5 光電探測器組件的主要失效模式及機理
11.3 光電子器件典型環境適應性試驗
11.3.1 溫度環境適應性試驗
11.3.2 力學環境適應性試驗
11.3.3 熱真空環境適應性試驗
11.3.4 輻照環境適應性試驗
11.4 光電子器件可靠性篩選
11.4.1 光電子器件可靠性篩選條件
11.4.2 光電子器件可靠性篩選方法
11.4.3 光電子器件可靠性篩選項目
11.5 光電子器件可靠性試驗
11.6 光電子器件壽命預計與評估方法
11.6.1 產品可靠性指標及光纖感測器MTBF預計
11.6.2 光電子器件壽命預計及試驗設計
11.6.3 光電子器件加速壽命試驗失效判據
11.6.4 光電子器件加速壽命試驗方法
11.6.5 光電子器件MTTF的統計法
11.6.6 光纖壽命預計
參考文獻
附錄 縮略語
索引
作品影響
2013年10月，該書入選第四屆“三個一百”原創圖書出版工程科學技術類圖書。
