差示掃描量熱分析系統

差示掃描量熱分析系統

差示掃描量熱分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2007年4月6日啟用。

基本介紹

  • 中文名:差示掃描量熱分析系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:物理學
  • 啟用日期:2007年4月6日
  • 所屬類別:分析儀器 > 熱分析儀器 > 示差掃描量熱計
技術指標,主要功能,

技術指標

爐體材質 :鉑銥合金 冷卻附屬檔案: 冷卻器,2級機械製冷,3級機械製冷,自動液氮製冷 動態量程 ±800 mW 溫度範圍-170~750℃。

主要功能

測定物質的熱分解溫度, 研究材料的熱穩定性和氧化穩定性,確定材料的組分,相轉變溫度和相變熱焓等。

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