《工業測量系統原理與套用》是2011年測繪出版社出版的圖書，作者是李廣雲。
基本介紹
- 書名：工業測量系統原理與套用
- 作者：李廣雲
- ISBN：9787503021749
- 頁數：238
- 定價：￥38.00
- 出版社：測繪出版社
- 出版時間：2011-1-1
- 開本：16開
內容簡介,目錄,
內容簡介
李廣雲等編著的《工業測量系統原理與套用》針對工業測量系統技術迅猛發展的現狀，系統總結了作者近20年來的相關教學和科研成果，構建了工業測量系統的理論和技術體系，以期助推工業測量技術在我國大科學工程和先進裝備製造業中的套用。
全書共分7章，第1章從工業測量系統的概念和特點、分類、套用及發展趨勢等方面予以闡述。第2章至第6章分別討論了經緯儀測量系統、數字工業攝影測量系統、全站儀測量系統、雷射掃描測量系統、雷射跟蹤測量系統、關節臂式坐標測量機和Indoor GPS測量系統的測量原理、系統組成、關鍵技術和典型套用案例。第7章詳細介紹了工業測量系統的常用軟體及其基礎知識。
《工業測量系統原理與套用》可作為測繪工程及相關專業學生的選修教材，以及測試計量技術及儀器專業學生的參考教材，也可供精密測量領域的相關工程和研究人員學習參考。
目錄
第1章 緒論
§1.1 工業測量系統的概念和特點
§1.2 工業測量系統的分類
§1.3 工業測量系統的套用
§1.4 工業測量系統展望
§1.5 本書的主要內容
第2章 經緯儀測量系統
§2.1 概述
§2.2 經緯儀測量系統硬體
§2.3 定向原理及其精度分析
§2.4 多台經緯儀的定向解算
§2.5 物方點測量及其精度分析
§2.6 精度測試
§2.7 套用
第3章 數字工業攝影測量系統
§3.1 概述
§3.2 數字工業攝影測量相機及其檢校
§3.3 人工標誌及附屬檔案
§3.4 像點坐標高精度提取
§3.5 像片概略定向
§3.6 標誌點自動匹配
§3.7 自檢校光束法平差
§3.8 雙相機動態測量
§3.9 數字工業攝影測量系統軟體設計
§3.10 套用
第4章 全站儀測量系統
§4.1 概述
§4.2 全站儀硬體介紹
§4.3 全站儀測距原理
§4.4 測距合作目標
§4.5 全站儀自動目標識別技術
§4.6 測距誤差改正
§4.7 全站儀自由設站方法
§4.8 套用
第5章 雷射掃描測量系統
§5.1 雷射掃描測量系統分類
§5.2 雷射掃瞄器測量原理
§5.3 雷射掃瞄器數據採集
§5.4 掃描數據預處理
§5.5 三維建模與可視化
§5.6 精度測試
§5.7 套用
第6章 其他非正交坐標系測量系統
§6.1 雷射跟蹤測量系統
§6.2 關節臂式坐標測量機
§6.3 Indoor GPS
第7章 工業測量系統軟體及其基礎知識
§7.1 概述
§7.2 坐標系的生成與轉換
§7.3 幾何形狀的坐標系表示方法
§7.4 幾何形狀擬合與幾何要素求解
§7.5 測量數據處理
§7.6 掃瞄器相關軟體
§7.7 工業測量系統軟體介紹
§7.8 用戶專用軟體模組
參考文獻
