岩組分析是岩石學的一個分支。主要是在偏光顯微鏡和費氏台下或套用X射線的統計方法，以及用電子顯微鏡等鑑定分析岩石中的礦物顆粒的形狀、大小、結晶要素(如石英或方解石的光軸方位)以及相互關係和形成機制，來研究岩石的組構，從而了解岩石在形成和變形過程中的機理，物質運移的方向和方式，應力分布以及岩石的變形歷史。
基本介紹
- 中文名：岩組分析
- 外文名：fabric analysis
- 學科：地質科學
- 細分學科：岩石學的一個分支
釋義,岩組圖製作方法,岩組圖的基本型式,組構研究的意義,
釋義
岩組分析是岩石學的一個分支。主要是在偏光顯微鏡和費氏台下或套用X射線的統計方法，以及用電子顯微鏡等鑑定分析岩石中的礦物顆粒的形狀、大小、結晶要素(如石英或方解石的光軸方位)以及相互關係和形成機制，來研究岩石的組構，從而了解岩石在形成和變形過程中的機理，物質運移的方向和方式，應力分布以及岩石的變形歷史。近來，還用透射電子顯微鏡對變形晶體的亞結構進行測定。
岩組圖製作方法
（1）根據已經測出的組構要素產狀，在吳氏網上投影點，作出組構要素的投影圖——光軸的投影圖。
（2）在圖上統計點數：統計時採用與吳氏網的角距相對應的普洛寧網。普洛寧網由100個小圓組成，由網的中心到圓周小圓的半徑逐漸增大，所代表的角距半徑相等，實際面積相等，每個小圓的面積占吳氏網（普洛寧網）面積的1%。介紹對跖圓的概念。
（3）連線：統計後，把數目相等的點連成曲線，與連等高線一樣，即形成組構的等值線圖。連線時在高、低值間用內插法進行連線。如用1—3—8—12點連線，連線點的確定由自己決定，儘量使等密線間距相等。注意：吳氏網圓周上的等密線具有封閉性。
（4）整飾：花紋或著色。
岩組圖的基本型式
- 點極密：組構要素的投影點聚集在一個小區域中，形成一個單獨的點極密部。方向資料趨向平行於一條直線。
- 大圓環帶：組構要素投影點沿投影網的大圓分布，構成大圓環帶。方位資料趨向與位於大圓所確定的平面內。
- 小圓環帶：組構要素沿小圓分布。方位資料趨向於位於由該小圓所確定的圓錐內。
- 交叉環帶：是由兩個環帶交叉而形成的優選方位形式。
組構研究的意義
構造岩優選方位的研究，可以為解決簡單剪下的指向，有關構造的應變方式、路徑、應變歷史、應變增量等問題提供有意義的信息.
（1）判別剪下指向：在簡單剪下變形中，常出現不對稱的優選方位型式。根據優選方位型式對稱性與應變對稱性一致的原則，利用優選方位型式整體的不對稱性及極密分布的不對稱性，可判別剪下指向。
（2）與應變的關係，優選方位與應變的關係主要有以下幾種方面：
a．不同的應變方式，有不同的優選型式。以石英光軸優選方式型式為例，共軸壓縮或拉伸變形常形成小圓環帶，壓縮時小圓環帶半開角小，為25°-40°，拉伸時半開角較大，為50°-60°，甚至達70°-80°。Schmid（1986）借用Flinn圖解表示了優選方位與應變的關係，不同的應變方式有不同的主導優選方位型式。如K值接近0時亦即軸對稱壓縮，c軸優選方位以小圓環帶為主；K值接近1時，即以平面應變為主時，c軸優選方位型式為交叉環帶；K值趨於∞時 亦即以軸對稱拉伸為主時，c軸優選方位為大圓環帶。這些優選方位，形式並不是截然變化的，是隨著應變條件的變化而逐漸過渡的。
b. 推斷應變大小，岩石優選方位的優選程度與應變的大小或應變增量的大小有關。一般地，優選程度隨應變的增加而增大，因此可利用優選方位的優選程度與已知實驗成果對比，推斷應變的相對大小。
c．對構造岩優選方位的研究，已從幾何學研究發展到運動學和動力學的研究，由定性分析發展到定量分析，充分顯示了它的套用前景。
