岩組分析方法是分析研究岩石組構的方法;主要是用顯微鏡、費氏台及其他測試技術研究岩石變形過程中產生的顯微組構，通過本法可了解岩石的形成、變化過程及外界條件，以便進一步作出動力學方面的結論。地殼運動中地應力場不斷變化，岩石發生與應力場變化相適應的變形。岩石變化通過其內部直接組分運動與間接組分運動實現。即發生位錯、粒化、雙晶化、顆粒轉動、粒內滑動與旋轉、重結晶等。這些變化表現為定向組構(形體方位與結晶方位，形形色色的線理與面理)與應力礦物學特徵。本法通過測定岩石顆粒(包括晶粒)的方位，編制統計圖(稱組構圖或岩組圖)分析其對稱並作出動力學解釋。
其主要內容是：對顯觀的面理與線理進行測量與統計，觀察分析其地質背景;用偏光顯微鏡觀察定向薄片，用費氏台測定晶體的某些方位(光軸、光學主軸、結晶軸、雙晶面與解理面的法線、顯微裂隙、變形紋、波姆紋、波狀消光……等顯微面理與線理)與粒度(包括亞顆粒);利用吳氏網對上述測試數據進行投影，作出岩組圖;進行理論分析提出有關岩石成因、變形及動力學過程的推斷。本法是研究地質構造與變質岩的重要方法。在岩漿岩、礦床、找礦勘探、成因礦物學的實際工作中也有其獨特的作用，粒組(本方法的分支)對沉積作用的研究有特殊意義。它與金相學研究法有許多相通之處，二者互相借鑑、互相滲透。本法誕生於1930年左右，20世紀50年代以後取得飛躍發展，X光及電子顯微鏡岩組技術的出現，使岩組深入到超微觀領域;電算技術被套用於岩組成圖;測定優選方位的新方法：如光度計法、介電不均一法、干涉顯微鏡法等的引入是當前的發展方向。
