《岩石樣品掃描電子顯微鏡分析方法》是2014年10月15日發布的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名:岩石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- 標準號:SY/T 5162-2014
- 發布日期:2014-10-15
- 技術歸口:石油地質勘探專業標準化技術委員會
《岩石樣品掃描電子顯微鏡分析方法》是2014年10月15日發布的一項行業標準。
《岩石樣品掃描電子顯微鏡分析方法》是2014年10月15日發布的一項行業標準。起草單位中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司地質科學研究院、中國石油勘探開發研究院石油地質實驗研究中心等。起草人魏廣振、朱德升 等。...
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用於高解析度微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、解析度高,成像直觀、立體感強、放大倍數範圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,...
近年來,在掃描電鏡樣品製備方面取得了顯著的進展。臨界點乾燥法可以詳細地觀察原狀粘土礦物的顯微結構,背散射電子圖象的使用能夠在同一視域中直接識別不同化學成分的各種礦物。薄片分析技術 薄片技術是保護油氣層的岩相學分析三大常規技術...
由於掃描電鏡具有分辨能力高,景深長,視野大,成像富有立體感,可以直接觀察樣品凹凸不平的表面,例如金屬斷口,催化劑表面,無機非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進行電子通道花樣分析,從而研究試樣微區的晶體學位向,晶體對稱性,...
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵,可以實現微區衍射。3. 利用後接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。4. 進行高分辨分析、成像及生物大分子...
分析電子顯微術 分析電子顯微術是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 用高能電子束照射樣品,收集、測定和分析樣品局部區域發射出的各種信號的理論和技術。具有很高的空間解析度,設備為分析電子顯微鏡。出處 《材料科學技術名詞》。
中間鏡主要通過對勵磁電流的調節,放大倍數可從幾十倍連續地變化到幾十萬倍;改變中間鏡的焦距,即可在同一樣品的微小部位上得到電子顯微像和電子衍射圖像。掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品,僅以電子束儘量聚焦在樣本的一...
體積小巧(相對於落地式掃描電子顯微鏡)操作簡便 價格便宜 套用範圍 台式掃描電鏡用於各種樣品微細結構和特徵的形貌觀察,適用於生物樣品、醫學樣品、環境樣品、金屬材料、合金材料、陶瓷材料、吸附劑等的形貌觀察和微區分析。樣品製備一般...
GB/T 17366—1998 礦物岩石的電子探針分析試樣的製備方法 GB/T 17506—2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法 GB/T 17507—2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件 GB/T 17722—1999 金覆蓋層厚度的掃描電...
具有高性能x射線能譜儀,能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化學組分綜合分析能力。簡介 掃描電子顯微鏡因其解析度高、景深大、圖像更富立體感、放大倍數可調範圍寬等優點而被廣泛套用於半導體、無機...
(2)綜合熱分析。礦物在加熱過程中除了產生吸熱、放熱效應外,往往還有重量和體積的變化。綜合熱分析將其差熱曲線、重量變化曲線和體積變化曲線繪製在一張圖上以鑑定未知礦物。電子顯微鏡分析 常用的儀器有透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、...
物相分析和結構分析的內容包括比重的測定、透明礦物光性的測定、不透明礦物光性的測定、電子顯微鏡分析、X 射線衍射分析、熱分析等。化學成分分析法是確定礦物化學組成的方法。常用的有粉末研磨法、斑點試驗法、顯微化學分析法、染色法、...
樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品需製成薄片或光片,解析度為1微米。主要用途是對礦物作定量化學分析,研究化學組成和微量元素含量的變化,對光片或薄片中的細小礦物作定位或就地...