岩石光薄片

岩石光薄片主要指的是在地質工作中取得的一些岩礦鑑定樣品,一般可以分為岩石光片和岩石薄片兩大類。

在地質工作中通常要取一些岩礦鑑定樣品,最常見到的有岩石光薄片。岩石光薄片是一個統稱,它又可以分為岩石光片、岩石薄片。
岩石光薄片樣的取樣目的:
主要是利用所采岩石或礦石標本,通過礦物學岩石學礦相學等方法,結合的鏡下觀察,對礦石和圍岩的礦物成分、礦石結構構造、礦物共生組合和生成順序、近礦圍岩蝕變特徵、次生變化等進行研究,為確定岩石或礦石的礦物種類、分析地質構造、推斷礦床生成地質條件、了解礦石加工技術性能以及劃分礦石自然類型等方面提供資料依據。
岩石光薄片樣的主要任務:
1、對所采岩石礦物化石,作系統鑑定,統一定名,以便正確進行編錄和填圖。
2、系統研究岩石、礦石的物質成分、有用主元素的存在形式、礦石結構構造,正確確定岩石、礦物的名稱,探討成礦的地球化學條件和物理化學條件。
3、根據礦石的鑑定和分析資料,確定礦石的分布,劃分礦石工業類型。
岩石光片與岩石薄片的區別:
兩者的主要區別在於它們的側重點不同,分述如下:
岩石光片:側重於對岩石中的金屬礦物的觀察研究,其主要是為了觀察研究岩石中有用金屬礦物主元素及伴生(共生)元素的賦存狀態、自然類型、生成的先後順序、共生還是伴生組合,以及金屬礦物成分、含量、粒度、形態、結構構造及次生變化等特徵。
岩石薄片: 側重於觀察研究岩石的結構、構造、礦物成份及其共生組合,研究礦物的變質、蝕變現象,確定岩石、礦物的名稱,對比地層和岩石等。這裡當然要包括岩石中主要礦物的賦存形態、晶形、粒度、含量、結構構造等特徵。
岩石光薄片取樣原則及方法:
所採集的樣品應有充分的代表性。採集標本時要儘量採集新鮮的岩石,並做好野外地質觀察描述工作。根據研究目的不同,採樣的方法也有所不同,現將其主要的取樣原則和方法簡述如下:
1、岩石薄片樣的採集:從勘查初期到勘探的各個階段,根據各階段的研究目的系統採集岩石標本。岩石標本的採集一般沿岩石性變化最大的方向進行。採集岩漿岩的標本要從岩體的接觸帶到中心繫統採集,採集中應注意岩相的變化以及岩漿分異現象。對各種岩脈、析離體或殘留體、同化混染帶及圍岩蝕變、代表性圍岩也應採取標本;採集沉積岩、噴出岩的標本,應按層根據不同的目的要求採集,所採集的標本應代表不同相、不同層位、不同韻律的變化。如發現化石應小心鑿取;採集變質岩的標本,要在含有分帶標準礦物的各變質帶內採取。
2、岩石光片樣的採集:根據礦石自然類型、礦物組合、結構構造、蝕變特徵進行採集。為例研究礦石的變化規律,應沿礦體的走向、厚度和傾斜三個方向,選擇有代表性的若干剖面採集標本。應特別注意採集礦化地段的標本。在氧化帶,要注意採集次生礦物以及不同部位不同氧化程度的礦石標本。
3、單礦物標本的採集:採取單礦物標本,是為了查明有工業意義的有用主元素及其伴生稀散元素的賦存狀態和分布規律,研究它們在成礦過程中的作用和工業利用性能。有用元素主礦物和伴生礦物的標本在工業礦體內採取;用來劃分成礦期、成礦階段、的單礦物標本應在各期礦脈內採取。

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