基本介紹
圖書信息,內容簡介,
圖書信息
出版社:化學工業出版社
出版時間:2017年02月
定價¥128.00
開 本:16開
紙 張:膠版紙
包 裝:精裝
ISBN:9787122279590
內容簡介
本書是現代X射線光譜分析綜合性參考書。全書共分十七章,系統介紹X射線的物理基礎,基本性質,激發,色散,探測與測量,波長色散與能量色散光譜儀,基體效應,光譜背景和譜線重疊,樣品製備,定性與半定量分析,實驗校正法,數學校正法定量分析,薄膜和鍍層厚度分析,套用實例及分析誤差與不確定度等內容。附錄列舉了X射線螢光光譜分析常用的物理常數,相關數據等,供讀者參考使用。本書適用於冶金,地質,礦山,建材,檢驗檢疫,石油,化工,環境,農業,生物,食品,醫藥,文物及考古等部門從事X射線光譜分析的專業人員及相關工程技術人員參考,同時適用於高等院校相關專業師生,研究生及科研院所工程技術人員參考。