《基於TXRF技術的無機元素痕量分析方法研究》是依託煙臺大學，由鄔旭然擔任項目負責人的專項基金項目。
基本介紹
- 中文名：基於TXRF技術的無機元素痕量分析方法研究
- 項目類別：專項基金項目
- 項目負責人：鄔旭然
- 依託單位：煙臺大學
- 批准號：21045005
- 申請代碼：B0403
- 負責人職稱：教授
- 研究期限：2011-01-01 至 2011-12-31
- 支持經費：10（萬元）
項目摘要
無機元素痕量分析在環境、材料、資源、農業及食品等領域有著重要意義，目前可採用的方法很多。綜合而言，電感耦合電漿質譜法(ICP-MS)和全反射X螢光(TXRF)分析技術均具有靈敏度高、檢出限低、動態範圍寬、能多元素分析等特點，優勢較明顯。ICP-MS研究與套用較多，但近些年TXRF技術在國內研究報導少，落後於國際先進水平。課題組主要成員從事TXRF研究近20年，取得較突出成績。本項目擬在原有研究基礎上，借鑑國際上最新成果，採用國產化TXRF分析儀（或套用TXRF技術的XRF分析儀），選擇高純矽材料、生物樣品等有典型意義的2-3種樣品，建立常規元素的TXRF痕量分析方法，選擇1種待測輕元素與重元素配合進行試驗，初步建立TXRF技術間接測定輕元素的方法。取得具有一定水平的套用基礎研究成果，為依託TXRF技術進一步開展無機痕量分析方法研究打下良好的基礎。
