這個方法利用的是在單一波長的X射線束中旋轉或擺動的品體。這時，由於是固定的，面0是隨著品體的旋轉面變化的，所以能夠使布拉格定律得以滿足，即不同的晶面隨著試樣的旋轉將能夠進入反射位置。
衍射斑排列在層線上，層線上的斑點又依次形成一系列行線。因此，所有平行於旋轉軸的品面把X射線反射到零層線上。以晶體的c輔作為旋轉軸，用此法獲得的圖像具有從（hk0）類型晶面反射構成的零層線。類似地，（hk1）類型晶面分別把X射線反射到中心線上下的第一層線。很容易看出，從層線間隔可以得出晶體的參數c.
基本介紹
- 中文名：周轉晶體法
周轉晶體法以單色X射線照射轉動的單晶樣品，用以樣品轉動軸為軸線的圓柱形底片記錄產生的衍射線，在底片上形成分立的衍射斑。這樣的衍射花樣容易準確測定衍射圖。
晶體的衍射方向和衍射強度，適用於未知晶體的結構分析。周轉晶體法很容易分析對稱性較低的晶體（如正交、單斜、三斜等晶系晶體）結構，但套用較少。
