《半導體積體電路採樣/保持放大器測試方法的基本原理》 是1993年8月1日實施的一項中國國家標準。
基本介紹
- 中文名：半導體積體電路採樣/保持放大器測試方法的基本原理
- 外文名：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
- 標準號：GB/T 14115-1993
- 標準類別：方法
編制進程,起草工作,
編制進程
1993年1月21日，《半導體積體電路採樣/保持放大器測試方法的基本原理》發布。
1993年8月1日，《半導體積體電路採樣/保持放大器測試方法的基本原理》實施。
起草工作
主要起草單位：上海元件五廠 。
