半導體器件—機械和氣候試驗方法第17部分：中子輻照

《半導體器件—機械和氣候試驗方法第17部分：中子輻照》是2019年1月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：半導體器件—機械和氣候試驗方法第17部分：中子輻照
• 外文名：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation
• 標準號：GB/T 4937.17-2018
• 中國標準分類號：L40

編制進程

2018年9月17日，《半導體器件—機械和氣候試驗方法第17部分：中子輻照》發布。

2019年1月1日，《半導體器件—機械和氣候試驗方法第17部分：中子輻照》實施。

起草工作

主要起草單位：中國電子科技集團公司第十三研究所、中國科學院新疆理化技術研究所、西北核技術研究所。

主要起草人：席善斌、彭浩、楊善潮、金曉明、崔波、陳海蓉、陳偉、林東生、郭旗、陸嫵。