半導體器件—機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻振動

《半導體器件—機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻振動》是2019年1月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

  • 中文名:半導體器件—機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻振動
  • 外文名:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
  • 標準號:GB/T 4937.12-2018
  • 中國標準分類號:L40
編制進程,起草工作,

編制進程

2018年9月17日,《半導體器件—機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻振動》發布。
2019年1月1日,《半導體器件—機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻振動》實施。

起草工作

主要起草單位:中國電子科技集團公司第十三研究所。
主要起草人:遲雷、彭浩、崔波、高金環、岳振鵬、李樹傑、裴選、張艷傑。

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