劉慶綱，男，博士，天津大學教授。
基本介紹
- 中文名：劉慶綱
- 學位/學歷：博士
- 職業：教師
- 專業方向：光學及光電測試技術
- 任職院校：天津大學
個人經歷,主講課程,研究方向,學術成果,
個人經歷
1983/9 | 1987/7 | Bachelor Degree | Tianjin University 天津大學 | Precision Instruments 精密儀器 |
1987/9 | 1990/7 | Master Degree | Tianjin University 天津大學 | Measuring and Testing Technologies and Instruments 測試計量技術及儀器 |
1990/9 | 1992/9 | Doctoral Degree | Tianjin University 天津大學 | Measuring and Testing Technologies and Instruments 測試計量技術及儀器 |
1992/10 | 1995/3 | Doctoral Degree | Tohoku University, Japan 日本東北大學 | Precision Instruments 精密儀器（聯合培養） |
1995/3 | 1996/3 | Doctoral Degree | Tianjin University 天津大學 | Measuring and Testing Technologies and Instruments 測試計量技術及儀器 |
1996/4 | 1997/3 | 天津大學 | Postdoctor 博士後 | |
1997/4 | 1997/7 | 日本東北大學 | Guest Researcher 客員研究員 | |
1997/7 | 1999/4 | 日本(原)通產省工業技術院計量研究所 | Guest Researcher客員研究員 | |
1999/5 | 2008/6 | 天津大學 | Associate Professor 副教授 碩士生導師 | |
2008/6 | now | 天津大學 | Professor Ph.D. Supervisor 教授 博士生導師 | |
政協天津市第十五屆委員會委員，天津市南開區政協第十四屆、第十五屆政協委員，中國致公黨天津市南開區副主委、中國致公黨天津大學總支委員會副主委
主講課程
（1）測控系統與儀器設計（本科專業核心課）
（2）微納測試技術（研究生選修課）
研究方向
（1）光學及光電測試技術
（2）微納結構中的光電信息檢測技術
（3）光機電系統設計及儀器智慧型化
學術成果
主要研究課題
1 2019-01-01～2023-12-31 輪胎-路面接觸三軸應力分布測量儀器研製 國家自然科學基金-國家重大科研儀器研製項目(子課題) 負責
3 2014-04-01～2017-03-31 薄膜材料表面特性的近場增強檢測新方法研究 天津市自然科學基金-重點項目 負責
5 2013-01-01～2016-12-31 生物大分子拉伸力譜並行測試方法的研究 國家自然科學基金專項基金項目 參與
6 2013-01-01～2015-12-31 納米薄膜的近場增強效應檢測理論與方法研究 教育部高等學校博士學科點專項科研基金（博導類） 負責
7 2012-11-01～2015-05-31 自動變光焊接防護鏡測試儀設備 中國標準科技集團 負責
8 2012-09-27～2013-04-30 運動眼面部防護產品測試與加工 中國標準化研究院 負責
9 2013-06-16～2016-03-31 高精度電子天平 企業 負責
10 2010-05-20～2011-06-30 型鋼結構光檢測裝置研製 企業 負責
11 2010-05-20～2012-12-31 納米級複雜曲面多功能柔性原位測量關鍵基礎技術的研究 國家自然基金重大研究計畫培育項目 參與
12 2011-1-1～2012-11-30 溶液折射率的SPR測量方法研究 光電信息技術科學教育部重點實驗室開放課題 負責
13 2006-04-01～2009-03-01 基於納米光電子器件的超高速電信號電光測量方法研究 天津市自然科學基金-重點項目 負責
14 2004-03-01～2006-02-28 納米組裝、加工與檢測的基礎理論研究 教育部天津大學南開大學科技合作項目 負責
15 2004-01-01～2005-12-31 基於計算機視覺和顯微干涉技術的微結構測試方法與設備 國家863計畫項目 參與
16 2002-01-01～2004-12-31 基於計算機視覺和顯微干涉技術的MEMS動態測試系統 國家863計畫項目 參與
17 2001-03-01～2004-07-01 線上加工用高精度二維角度感測測控系統 天津市自然科學基金項目 負責
18 2001-01-01～2003-12-31 非常規井眼綜合模擬實驗系統 大慶石油管理局 參與
19 1999-01-01～2002-12-31 井下工具綜合模擬試驗系統研製 大慶石油管理局 參與
20 1999-04-01～2002-03-01 建立納米尺度實物標準的研究 天津市自然科學基金 參與
Authorized Patents 授權專利情況
No.
序號 Patents Name
授權專利名稱 Patents Category
專利類別 Patents No.
授權專利號 Authorized Country
授權國別 Rank
排名 Authorization Date
授權時間
1 用於測量薄膜厚度的SHEL分裂位移測量方法 發明 201710579817.2 中國 1 2019-6-14
2 一種寬光譜準直光源結構 實用新型 201821056694.0 中國 1 2019-3-26
3 一種板材自動綜合檢測裝置的測量方法 發明 201610674776.0 中國 1 2019-1-29
4 一種板材自動綜合檢測裝置 發明 201610674777.5 中國 1 2019-1-29
5 一種用於測量納米級雙層金屬薄膜厚度的SPR相位測量方法 發明 201610576077.2 中國 1 2018-12-21
6 具有運動數學模型的精密天平平衡一放大機構 發明 201510603798.3 中國 1 2018-11-27
7 板材（陶瓷磚）幾何量全參數綜合測量儀測控程式軟體 軟體著作權 2018SR920795 中國 1 2018-11-19
8 一種適於多等級精密天平的設計方法 發明 201510602531.2 中國 1 2017-12-8
9 一種自動變光焊接濾光鏡漫射光約化亮度係數測量方法 發明 201510615310.9 中國 1 2017-12-8
10 自動變光焊接濾光鏡漫射光約化亮度係數測量裝置 發明 201310636705.8 中國 1 2016-8-17
11 自動變光焊接濾光鏡漫射光約化亮度係數測量方法 發明 201310638494.1 中國 1 2016-8-17
12 一種用於稱量的單體感測器機械結構 實用新型 201420684582.5 中國 1 2015-1-16
13 一種基於單體感測器的高精度電子天平測量系統 實用新型 201420684584.4 中國 1 2015-1-16
14 基於角度測量的原子力顯微鏡測量裝置 發明 200410094054.5 中國 1 2007-2-14
15 基於角度測量的原子力顯微鏡測量方法 發明 200410094053.0 中國 1 2007-2-14
16 一種高精度二維小角度測量方法 發明 200410094051.1 中國 1 2006-5-24
17 一種高精度二維小角度測量裝置 發明 200410094050.7 中國 1 2006-5-24
18 光學非接觸式小角度測量裝置 發明 200410094052.6 中國 1 2006-1-25
Publications-Papers 主要發表文章
1. Improved model of weak measurement for detecting the photonic spin Hall effect， JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2019.12.4, 52(49): 495106 (9pp) ; SCI 二區，2019
2. Sensitivity enhancement of SPR biosensor with graphene and Blue phosphorene /transition metal dichalcogenides hybrid nanostructure, Applied Optics，已錄用待發表
3. Modified model of photonic spin Hall effect of Gaussian beam reflected from a dielectric interface，Applied Physics Express, 2019.6.1, 12(6): 062008-1-5 ; SCI二區, 2019
4. Phase detection type SPR (PD-SPR) sensor for thin film’s thickness and optical constants, 19th International Conference and Exhibition, EUSPEN 2019, p 212-213, EI, 2019
5. Impact of surface plasmon resonance on angular spin splitting of light, Proc. SPIE. 11028, Optical Sensors 2019, EI, 2019
6. Determination of thin metal film’s thickness and optical constants based on SPR phase detection by simulated annealing particle swarm optimization, Optics Communications, 2019.1.1, 430: 238~245 ; SCI三區，2019
7. 陶瓷磚幾何量尺寸檢測新方法的研究, 中國陶瓷，Vol.55,No.3,PP44-50, CSCD, 2019
8. Enhancement of spin components’ shifts of reflected beam via long range surface plasmon resonance, Optics Communications, 2018.11.1, 426: 16~22 ; SCI三區，2018
9. Enhanced in-plane and out-of-plane photonic spin Hall effect via surface plasmon resonance，Physics of Plasmas, 2018.2.1, 25(2): 022121~1-6 ; SCI二區，2018
10. Simulation of Nano Metal Film Thickness Measurement Based on surface Plasmon Resonance Effect, Nanotechnology and Precision Engineering, Vol.1,No.1, 16-22, 2018
11. Determination of the Bimetallic Layers’Film Thicknesses by Phase Detection of SPR Prism Coupler, Plasmonics, 2017.8.15, 12(4): 1199-1204，SCI二區，2017
12. A characterization method for the metal thin film, Proceedings of the SPIE，9927-60, EI 2016
13. Moire´ fringe method for roll angular displacement measurement, Proceedings of the SPIE 9677 96771R (5 pp.) EI 2015
14. 基於有限元的柔性鉸鏈微位移機構研究, 機械科學與技術 Vol.34,No.7,985-988 2015 CSCD核心
15. SPR phase detection for measuring the thickness of thin metal films, OPTICS EXPRESS, V22, No.7, pp7574-7580, 2014 SCI二區
16. 自動變光焊接濾光鏡回響時間快速測量方法, 電子測量與儀器學報，V28,No.3,320-325 2014 CSCD核心
17. 型鋼端面尺寸的精密視覺檢測方法, 光電工程 Vol.40, No.11, pp1-7 2013 CSCD核心
18. Research of SPR Phase Detection for Measuring Ultra Thin Metal Film, Key Engineering Materials, 562-565, 896-901 2013 EI
19. Phase detection for nanometer scale metal film's thickness based on SPR effect, Advanced Materials Research, Vol.320, 2011, 377-381 2011 EI
20. UTC-PD和RTD單片集成的器件模擬研究, 固體電子學研究與進展,Vol.30,No.3，353-357 2010 CSCD核心
21. Fabrication of PCSS based on AFM and photolithograph, 2010 Symposium on Photonics and Optoelectronic, SOPO 2010 - Proceedings，2010，5504010 EI
22. Reflective Interference in Passive RFID Localization and the Improvement Method, The 5th International Conference on Wireless Communications, Networking and Mobile Computing (WiCOM 2009) EI
23. Fabrication and Characterization of micro Opto-electronic Sensor, Int. Conf. Meas. Technol. Mechatronics Autom., ICMTMA, Vol.1 20-23 2009 EI
24. 基於位置和壓力的筆跡識別方法, 光電子雷射 Vol.20, No.4, pp499-503, 2009 EI
25. Optimum design of 2D micro-angle sensor, Proceedings of SPIE, Vol.7130, 713009, 2008 EI
26. Analysis of Photoconductive Sampling method for Micro PCSS, 2008 International Workshop on Junction Technology, IWJT-2008 IWJT'2008: 172-175 EI
27. 光電導開關中的隧穿現象, 感測技術學報, Vol.21, No.2, Feb.2008， pp.269-272 CSCD核心
28. Study on fabrication and characterization of nanometer scale MIM tunneling junction, Proceedings of the International Conference on Integration and Commercialization of Micro and Nanosystems 2007, vA, p373-377, 2007 EI
29. The effect of the TiOx line width on the tunneling phenomenon, Proceedings of the 2nd IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, IEEE NEMS 2007, p 467-471 EI
30. Two dimensions angular sensor for micro/nano measurement, Proceedings of the 2nd IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, IEEE NEMS 2007, p 274-277 EI
31. A phenomenon of LT-GaAs photoconductive switch triggered by 800 nm femtosecond laser, IET Conference Publications, n 524, International Technology and Innovation Conference 2006. ITIC 2006 , p 494-499 EI
32. Characterization of nanometer scale titanium film oxidation lines and MIM tunneling junction structures, IET Conference Publications, n 524, Interna tional Technology and Innovation Conference 2006, ITIC 2006, p 464-469 EI
33. Comparison of the effect of TiOx lines number in the tunneling junctions to the tunneling phenomenon, Proceedings of SPIE, v6358 I, 2006, p 63580B EI
34. 隧道結TiOx 線寬度對隧穿現象的影響, 半導體學報v 27, n 8, August, 2006, p 1453-1457 EI
35. 納米隧道結的製備和特性研究, 物理學報，Vol.55 No1, pp80-83, 2006 SCI
36. AFM 誘導氧化脈衝寬度與Si納米加工，感測技術學報，2006年10月第19卷第5期：1441-1443 2006 CSCD核心
37. 脈衝時間對AFM陽極誘導氧化加工的影響，納米技術與精密工程，Vol.4, No.1, pp79-82, 2006 CSCD核心
38. AFM加工的Ti納米氧化鈦線的直線度分析，光電子．雷射, v16, n12, December, 2005, p 1417-1420 EI
39. Micro Angle Measurement for a Scanning Stage, Key Engineering Materials，vol.295-296, 2005, pp119-124 SCI
40. Method to detect the property of complex oxide structure formed by AFM anodic oxidation completely, Ultramicroscopy, Vol. 105 (2005), 111-114 SCI二區
41. Current detection during tip-induced oxidation of titanium by atomic force microscope, Proceedings of SPIE, v5635, 2005, pp305-312 EI
42. Angular sensor for micro angle measurement of micro target, Proceedings of ISTM’2005, vol.4, pp3668-3671 EI
43. 大氣濕度對AFM針尖氧化加工金屬Ti膜的影響, 壓電與聲光, Vol.26, No.3, 2004, pp234-236 EI
44. 納米標準物及長時穩定性, 壓電與聲光，Vol.26, No.2, Apr. 2004, pp161-163 CSCD核心
45. Optical parameters’ Design and analysis of angle sensor, Proceedings of SPIE, v5174, 2003, pp202-211 EI
46. Analysis of AFM tip-induced oxidation of thin metal film in the air, Proc SPIE Int Soc Opt Eng 5220,108-116 EI
47. 用於納米光電器件的Ti納米氧化線的AFM加工, 光電子雷射，Vol.14, No.12, Dec. 2003, pp1296-1298 CSCD核心
48. 大氣狀態下AFM針尖誘導氧化加工Ti膜的機理分析, 半導體學報，Vol.24, No.12, 2003.12, pp1303-130 EI
49. 誤差因素對微角度感測器性能的影響, 光電子雷射，Vol.24, No.4, 2003.4，pp354-358 CSCD核心
50. 材料表面硬度及形狀的AFM分析方法, 天津大學學報，Vol.36, No.2, 2003, pp174-177 EI
51. Atom force microscopic characterization of the interaction forces between bovine serum albumin and cross-linked alkylated chitosan membranes in media of different pH, Polymer International, vol51, No. 12, 2002, p1459-1463 SCI
52. Methods of improving photoconductive sampling, Proceedings of the Second International Symposium on Instrumentation Science and Technology, v 2, 2002, p 2/509-2/513 EI
53. Design and analysis of angle sensor optical parameters, Proceedings of the Second International Symposium on Instrumentation Science and Technology, v 3, 2002, p 3/318-3/332 EI
54. Formation of a DNA/N-dodecylated chitosan complex and salt-induced gene delivery, Journal of Applied Polymer Science, Volume 82, Issue 14, 2001. Pages: 3391-3395 SCI
55. 角度感測器及其在納米測試技術中的套用, 中國計量測試學會第三屆海峽兩岸計量科技學術研究計會論文集，77～80，2000 EI
論著及教材情況
1．主編《測控儀器設計》（第三版）機械工業出版社，十一五國家級規劃教材; ISBN No. 978-7-111-48144-7; 1, 2015 （主編及第三章）
3. 主編《測控系統與儀器設計》，已完稿，待出版。
