冷場發射式掃描電鏡

冷場發射式掃描電鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2010年9月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：冷場發射式掃描電鏡
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2010年9月29日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

二次電子解析度：1.0nm(15KV)。

主要功能

所有固體材料的分析與觀察。