冷場發射式掃描電鏡

冷場發射式掃描電鏡

冷場發射式掃描電鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2010年9月29日啟用。

基本介紹

  • 中文名:冷場發射式掃描電鏡
  • 產地:日本
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2010年9月29日
  • 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

二次電子解析度:1.0nm(15KV)。

主要功能

所有固體材料的分析與觀察。

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