兩維流場粒子圖像測速系統是一種用於機械工程、電子與通信技術領域的物理性能測試儀器,於2008年12月11日啟用。
基本介紹
- 中文名:兩維流場粒子圖像測速系統
- 產地:美國
- 學科領域:機械工程、電子與通信技術
- 啟用日期:2008年12月11日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器
兩維流場粒子圖像測速系統是一種用於機械工程、電子與通信技術領域的物理性能測試儀器,於2008年12月11日啟用。
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