全內反射螢光單分子定位顯微鏡系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、生物學、基礎醫學領域的分析儀器，於2015年11月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：全內反射螢光單分子定位顯微鏡系統
- 產地：日本
- 學科領域：工程與技術科學基礎學科、生物學、基礎醫學
- 啟用日期：2015年11月3日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
10x, 20x, 40x, 60x, 以及150x 倍數物鏡。 405， 488， 561， 640 四射雷射器。 IX83 系統。 電動控制器+操作手柄。 Andor EMCCD Ultra 897。
主要功能
包括四個雷射器，獨立的整合裝置，多個雷射可以同時達到相同的消逝波深度，可提供同時進行多通道膜表面分子動態觀察及單分子探測等研究。1. 可以完成寬場螢光的採集及分析2. 可以完成多色TIRF在同一消逝波深度的圖像採集，可以進行長時間TIRF圖像的採集3. 可以進行單分子定位檢測的採集4. 可以進行點FRAP的實驗5. Z軸精確度高，最小精度步進≤10nm6. 有並行控制部件，通過模擬接口和數字接口控制和觸發其他外部設備同步工作，時間解析度≤1ms, 精確度≤10ms7. 有150xTIRF物鏡，非常適合單分子定位採集以及細胞中特定區域做高解析度的採集。
