光電磁模式原子力顯微鏡

光電磁模式原子力顯微鏡是一種用於化學領域的計量儀器，於2013年12月3日啟用。

基本介紹

• 中文名：光電磁模式原子力顯微鏡
• 產地：韓國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2013年12月3日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 超導強磁場標準

技術指標

工作模式：接觸式和非接觸式；解析度：XY（.1 nm），Z（.2 nm）；三維工作樣品台：XY方向工作範圍25mm×25mm（手動），Z方向工作範圍27.5mm（自動）；掃描範圍：5μm×5μm（XY），12μm（Z）；圖像採用：496×496像素，光學分辨：1μm；進針方式：垂直自動進針；模數/數模：16位，5kHz採樣頻率。

主要功能

用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用感測器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級解析度獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。此外，購置的光電磁附屬檔案，可用於表征材薄膜料的光電流（785nm）、磁疇以及電壓分布的測量。