光電探測系統

光電探測系統是一種用於電子與通信技術領域的計量儀器，於2016年3月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：光電探測系統
• 產地：美國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2016年3月10日
• 所屬類別：計量儀器 > 光學計量儀器 > 光電探測器光譜回響度標準裝置

技術指標

最多可達6個探測臂、溫度範圍：4.2K到325K、最大樣品直徑：30mm、真空度：10e-5torr、磁場最大：2T、磁場可以垂直及平行於樣品，並且在平行及垂直方向附帶光學視窗，透光範圍為從可見光到紅外光波段、能配合吉時利4200系統測試霍爾效應及磁電阻效應等。

主要功能

非常適合集成到客戶設計的磁測試平台中，套用於磁光研究、磁滯研究、線上退火、霍爾效應研究、磁化率測量等領域。