《光電尺寸檢測及套用技術》是作者多年來科研與實踐教學的經驗積累，內容豐富、技術前沿、理論聯繫實際；對光電尺寸檢測所涉及的關鍵技術進行了深入的研究，建立了相應的數學模型，並對系統精度進行了分析；列舉了典型實例，涉及內容均得到實際套用，經證明設計合理、分析正確；使讀者在深入理解各種檢測原理的同時，還能開拓設計思路。《光電尺寸檢測及套用技術》具有實用參考價值，可作為研究生教材及相關工程技術人員設計光電檢測系統的參考書。
基本介紹
- 書名：光電尺寸檢測及套用技術
- 出版社：國防工業出版社
- 頁數：139頁
- 開本：16
- 品牌：國防工業出版社
- 作者：徐熙平 張寧
- 出版日期：2014年8月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：9787118096217
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《光電尺寸檢測及套用技術》由國防工業出版社出版。
圖書目錄
第1章緒論
1.1光電檢測技術在現代生產中的地位和作用
1.2光電尺寸檢測技術的現狀和新發展
第2章雷射掃描檢測技術及系統
2.1雷射掃描測量原理
2.2檢測系統主要組成部分設計
2.2.1掃描速度分析
2.2.2掃描發射系統設計
2.2.3雷射掃描接收系統設計
2.2.4精密機械系統設計
2.2.5電子學與微機實時數據處理系統
2.3幾種特殊雷射掃描檢測系統設計
2.3.1雙向雷射掃描檢測系統
2.3.2雙路雷射掃描檢測系統
2.3.3反射武雷射掃描檢測技術
第3章雷射位移檢測技術及系統
3.1光三角工作原理
3.1.1位移量與光學系統參數之間的關係
3.1.2PSD上像點位置S的確定
3.1.3PSD與光軸的夾角關係
3.2測量系統的工作過程
3.3位移檢測系統主要組成部分設計
3.3.1位置敏感器（PSD）及光源的選擇
3.3.2PSD數據採集處理電子學系統設計
3.3.3計算機實時控制與數據處理系統設計
3.4誤差因素
3.5內徑雷射位移檢測系統設計
第4章複色共焦檢測技術及系統
4.1複色共焦檢測原理
4.1.1共焦成像的原理
4.1.2複色共焦測厚原理
4.2典型的共焦檢測系統
第5章CCD成像檢測技術及系統
5.1CCD尺寸檢測原理
5.2CCD輸出信號的二值化處理
5.3線陣CCD物體尺寸測量系統
5.3.1線陣CCD微小尺寸的檢測
5.3.2線陣CCD小尺寸的檢測
5.3.3線陣CCD大尺寸的檢測
第6章光柵位移檢測及伺服控制系統
6.1光柵線位移檢測系統
6.1.1光柵位移測量的基本原理
6.1.2光柵位移檢測系統設計
6.2光電軸角編碼器
6.2.1光電編碼器工作原理
6.2.2編碼器代碼分類
6.3閉環伺服控制系統
6.3.1閉環伺服控制系統組成
6.3.2閉環伺服控制方法
第7章光電多功能二維自動檢測系統
7.1檢測系統的總體結構
7.2同軸度誤差測量
7.2.1同軸度誤差的測量方法
7.2.2實驗結果與分析
7.3環距測量
7.3.1環距測量原理
7.3.2軸向截面斜角β的測量
7.3.3環距測量實時算法
第8章曲臂光電綜合測量系統
8.1系統的組成與總體結構布局
8.1.1系統的組成
8.1.2總體結構布局
8.2被測參數測量原理
8.2.1直徑測量原理
8.2.2徑向圓跳動誤差測量原理
8.2.3花鍵內徑定心圓柱面徑向圓跳動誤差測量原理
8.2.4平行度誤差測量原理
第9章雷射掃描圓度誤差測量系統
9.1圓度測量原理
9.2工件安裝偏心誤差的分離
9.3實驗結果與分析
第10章飛輪齒圈總成跳動誤差非接觸檢測系統
10.1理論基礎
10.2測量系統原理
10.3實驗結果和分析
10.3.1測量精度
10.3.2測量能力指數Cg
第11章透明材料厚度非接觸檢測系統
11.1反射式透明材料厚度檢測系統
11.1.1反射式透明材料厚度檢測原理
11.1.2反射式透明材料厚度檢測系統設計
11.1.3測量結果與分析
11.2複色共焦透明材料厚度檢測系統
11.2.1系統組成及原理
11.2.2共焦光學系統設計與最佳化
11.2.3光譜數據採集系統
11.2.4光譜數據分析系統
11.2.5實驗測試和分析
第12章基於機器視覺的遠距離目標尺寸測量系統
12.1機器視覺檢測方法
12.2遠距離隨機目標檢測原理
12.3圖像處理
12.4精度分析
12.5測量結果分析
第13章光電綜合測量系統誤差分析
13.1誤差來源及分析
13.1.1導軌誤差分析
13.1.2測量線、導向線、傳動線之間的相對關係誤差分析
13.1.3其他誤差分析
13.2各誤差因素對測量結果的影響
13.2.1各誤差因素對直徑測量的影響
13.2.2各誤差因素對徑向圓跳動測量的影響
13.2.3各誤差因素對平行度測量的影響
參考文獻
1.1光電檢測技術在現代生產中的地位和作用
1.2光電尺寸檢測技術的現狀和新發展
第2章雷射掃描檢測技術及系統
2.1雷射掃描測量原理
2.2檢測系統主要組成部分設計
2.2.1掃描速度分析
2.2.2掃描發射系統設計
2.2.3雷射掃描接收系統設計
2.2.4精密機械系統設計
2.2.5電子學與微機實時數據處理系統
2.3幾種特殊雷射掃描檢測系統設計
2.3.1雙向雷射掃描檢測系統
2.3.2雙路雷射掃描檢測系統
2.3.3反射武雷射掃描檢測技術
第3章雷射位移檢測技術及系統
3.1光三角工作原理
3.1.1位移量與光學系統參數之間的關係
3.1.2PSD上像點位置S的確定
3.1.3PSD與光軸的夾角關係
3.2測量系統的工作過程
3.3位移檢測系統主要組成部分設計
3.3.1位置敏感器（PSD）及光源的選擇
3.3.2PSD數據採集處理電子學系統設計
3.3.3計算機實時控制與數據處理系統設計
3.4誤差因素
3.5內徑雷射位移檢測系統設計
第4章複色共焦檢測技術及系統
4.1複色共焦檢測原理
4.1.1共焦成像的原理
4.1.2複色共焦測厚原理
4.2典型的共焦檢測系統
第5章CCD成像檢測技術及系統
5.1CCD尺寸檢測原理
5.2CCD輸出信號的二值化處理
5.3線陣CCD物體尺寸測量系統
5.3.1線陣CCD微小尺寸的檢測
5.3.2線陣CCD小尺寸的檢測
5.3.3線陣CCD大尺寸的檢測
第6章光柵位移檢測及伺服控制系統
6.1光柵線位移檢測系統
6.1.1光柵位移測量的基本原理
6.1.2光柵位移檢測系統設計
6.2光電軸角編碼器
6.2.1光電編碼器工作原理
6.2.2編碼器代碼分類
6.3閉環伺服控制系統
6.3.1閉環伺服控制系統組成
6.3.2閉環伺服控制方法
第7章光電多功能二維自動檢測系統
7.1檢測系統的總體結構
7.2同軸度誤差測量
7.2.1同軸度誤差的測量方法
7.2.2實驗結果與分析
7.3環距測量
7.3.1環距測量原理
7.3.2軸向截面斜角β的測量
7.3.3環距測量實時算法
第8章曲臂光電綜合測量系統
8.1系統的組成與總體結構布局
8.1.1系統的組成
8.1.2總體結構布局
8.2被測參數測量原理
8.2.1直徑測量原理
8.2.2徑向圓跳動誤差測量原理
8.2.3花鍵內徑定心圓柱面徑向圓跳動誤差測量原理
8.2.4平行度誤差測量原理
第9章雷射掃描圓度誤差測量系統
9.1圓度測量原理
9.2工件安裝偏心誤差的分離
9.3實驗結果與分析
第10章飛輪齒圈總成跳動誤差非接觸檢測系統
10.1理論基礎
10.2測量系統原理
10.3實驗結果和分析
10.3.1測量精度
10.3.2測量能力指數Cg
第11章透明材料厚度非接觸檢測系統
11.1反射式透明材料厚度檢測系統
11.1.1反射式透明材料厚度檢測原理
11.1.2反射式透明材料厚度檢測系統設計
11.1.3測量結果與分析
11.2複色共焦透明材料厚度檢測系統
11.2.1系統組成及原理
11.2.2共焦光學系統設計與最佳化
11.2.3光譜數據採集系統
11.2.4光譜數據分析系統
11.2.5實驗測試和分析
第12章基於機器視覺的遠距離目標尺寸測量系統
12.1機器視覺檢測方法
12.2遠距離隨機目標檢測原理
12.3圖像處理
12.4精度分析
12.5測量結果分析
第13章光電綜合測量系統誤差分析
13.1誤差來源及分析
13.1.1導軌誤差分析
13.1.2測量線、導向線、傳動線之間的相對關係誤差分析
13.1.3其他誤差分析
13.2各誤差因素對測量結果的影響
13.2.1各誤差因素對直徑測量的影響
13.2.2各誤差因素對徑向圓跳動測量的影響
13.2.3各誤差因素對平行度測量的影響
參考文獻
