光學檢查設備

光學檢查設備是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2009年3月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學檢查設備
• 產地：韓國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2009年3月16日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器

技術指標

灰度,色溫,色域。

主要功能

機器通過攝像頭自動掃描PCB，採集圖像，測試的焊點與資料庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出PCB上缺陷。