元器件和半導體領域專利審查案例評析

《元器件和半導體領域專利審查案例評析》以新穎性、創造性判斷為主線，針對元器件、半導體領域提供了一些具有典型性的審查案例並進行分析。其中，既有涉及檢索技巧，也有涉及技術理解、法律判斷的案例。有些案例很有特點，分析也頗有深度。

基本介紹

• 中文名：元器件和半導體領域專利審查案例評析
• 作者：應志紅、劉軍
• 類別：人文社科
• 出版社：智慧財產權出版社
• 出版時間：2013年7月1日
• 頁數：124 頁
• 定價：36.00
• 開本：16 開
• ISBN：9787513021029
• 語種：簡體中文

內容簡介

《元器件和半導體領域專利審查案例評析》適用於相關技術領域專利代理人、專利審查員、審查研究人員。

圖書目錄

序言

第一章檢索

第一節全面檢索

1.1.1 對有檢索報告的PCT申請的充分檢索

1.1.2補充檢索的時機把握

第二節檢索技巧

1.2.1 複雜數值範圍的檢索

1.2.2具有形貌特徵的權利要求的檢索

1.2.3 檢索過程中關鍵字的擴展

1.2.3.1 效果性限定

1.2.3.2功能性限定

第二章實體審查

第一節把握立法宗旨，正確適用法律條款

第二節 理解發明實質，準確判斷申請

2.2.1新穎性審查

2.2.2創造性審查

2.2.2.1 創造性評述時“三步法”的使用

2.2.2.2 通過合乎邏輯的分析、推理或有限試驗得出數值限定的判斷

2.2.2.3 公知常識在創造性判斷中的套用

2.2.3針對申請人意見陳述的審查

2.2.3.1 準確判斷申請人意見的合理性

2.2.3.2適當的評述方式提高溝通效率

第三節合理使用證據，提升通知書說服力

2.3.1 對比檔案證據的使用

2.3.1.1 權利要求中的並列技術方案分別採用不同的對比檔案評述

2.3.1.2 獨立權利要求與從屬權利要求分別採用不同的對比檔案評述

2.3.1.3 兩組從屬權利要求分別採用不同的對比檔案評述

2.3.2公知常識證據的使用

2.3.2.1 首次審查意見提供公知常識證據

2.3.2.2後續審查中提供公知常識證據

2.3.2.3公知常識認定存在異議時的替代證據

第三章其他

第一節缺乏必要技術特徵

第二節優先權核實

第三節公開不充分

3.3.1 半導體製造方法公開不充分

3.3.2 顯示器裝置公開不充分