傳熱傳質中的紋影與陰影方法

內容簡介

　　在相當多的情況下，人們需要對某些區域的速度和溫度變化進行精細和連續的測試。使用合適的光源，可以得到橫截面上速度和溫度場隨時間變化的信息。如果感興趣的區域是透明的，折射率將成為場變數，利用光線彎曲效應就可以用於提取關於溫度的信息；類似的原理可以用於確定溶液中鹽的濃度；並且，隨時間變化的光強圖像也可用於確定流體速度。《傳熱傳質中的紋影與陰影方法》主要討論出現在這些測量、實驗裝置和數據分析中所涉及的基本原理。

　　儘管雷射測量技術在過去的30年裡變得非常普遍，但主要是將之作為一種定性的流動可視化工具。然而，過去10年的文獻同樣強調了其定量測量的可能性。光學成像可以使用透明介質中的透射光或示蹤粒子的散射光來進行。利用折射率依賴於密度的原理（間接依賴於濃度和溫度），可以實現很多種不同的光學測量方法。

　　《傳熱傳質中的紋影與陰影方法》介紹的3種可用方法包括：干涉測量法、紋影法和陰影法，這3種方法通過記錄的圖像可以分析傳輸變數隨時間變化的三維分布。

圖書目錄

第1章光學測量：概述

1．1 引言

1．2 研究背景

1．3 光學方法

1．4 光源

1．4．1 雷射簡介

1．4．2 雷射的特點

1．5 干涉現象

1．5．1 溫度測量

1．5．2 雙波長干涉測量

1．5．3 馬赫-曾德爾干涉儀

1．5．4 條紋分析

1．5．5 折射誤差

參考文獻

第2章雷射紋影與陰影

2．1 引言

2．2 雷射紋影

2．2．1 刀口的布置

2．2．2 紋影圖像分析

2．2．3 灰度濾光片

2．3 背景導向紋影

2．3．1 實驗細節

2．3．2 數據分析

2．4 陰影技術

2．4．1 控制方程及其近似

2．4．2 泊松方程的數值解

2．5 小結

參考文獻

第3章彩虹紋影

3．1 引言

3．2 光路布置

3．3 濾光片設計

3．3．1 一維彩虹濾光片

3．3．2 二維彩虹濾光片

3．4 HSI參數

3．4．1 一維濾光片的標定

3．5 彩色紋影圖像的形成

3．5．1 軸對稱場的分析

3．6 彩色紋影與單色紋影對比

參考文獻

第4章層析成像原理

4．1 引言

4．2 概述

4．3 卷積反投影

4．4 疊代技術

傳熱傳質中的紋影與陰影方法

基本介紹

內容簡介

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