傅立葉光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於1996年11月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:傅立葉光譜測量系統
- 產地:瑞士
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:1996年11月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
傅立葉光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於1996年11月1日啟用。
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低溫傅立葉紅外光譜儀 低溫傅立葉紅外光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年10月30日啟用。技術指標 檢測單晶矽中三族、五族元素的含量,量程0.05-50ppba,精度±1%±0.05ppba。主要功能 單晶矽中三族、五族元素的含量。
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