低溫傅立葉紅外光譜儀

低溫傅立葉紅外光譜儀

低溫傅立葉紅外光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年10月30日啟用。

基本介紹

  • 中文名:低溫傅立葉紅外光譜儀
  • 產地:德國
  • 學科領域:化學
  • 啟用日期:2008年10月30日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
技術指標,主要功能,

技術指標

檢測單晶矽中三族、五族元素的含量,量程0.05-50ppba,精度±1%±0.05ppba。

主要功能

單晶矽中三族、五族元素的含量。

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