偏振干涉測量是天文學專有名詞,來自中國天文學名詞審定委員會審定發布的天文學專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數據著作權由天文學名詞委所有。
基本介紹
- 中文名:偏振干涉測量
- 外文名:polarization interferometry
- 類別:天文學專有名詞
- 數據著作權:天文學名詞委所有。
偏振干涉測量是天文學專有名詞,來自中國天文學名詞審定委員會審定發布的天文學專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數據著作權由天文學名詞委所有。
偏振干涉測量是天文學專有名詞,來自中國天文學名詞審定委員會審定發布的天文學專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數據著作權由天文學名詞委所有。補充說明“英漢天文學名詞資料庫”(以下簡稱“天文名詞庫”)是由中國天文學會天文學...
常見的方法還包括惠普公司研發的惠普干涉儀,它通過外加一個軸向磁場使氦-氖雷射器工作在兩個相近頻率,從而發出頻率相差2兆赫茲的兩束雷射,再通過偏振分束器使這兩束雷射產生外差干涉。干涉得到的差頻信號被光檢測器記錄,而待測樣品引起的光程差變化則可以通過計數器表示為光波長的整數倍。惠普干涉儀可以測量在60...
常見的方法還包括惠普公司研發的惠普干涉儀,它通過外加一個軸向磁場使氦-氖雷射器工作在兩個相近頻率,從而發出頻率相差2兆赫茲的兩束雷射,再通過偏振分束器使這兩束雷射產生外差干涉。干涉得到的差頻信號被光檢測器記錄,而待測樣品引起的光程差變化則可以通過計數器表示為光波長的整數倍。惠普干涉儀可以測量在60...
光的干涉和衍射現象說明了光具有波動性。光的偏振和光學各向異性晶體中的雙折射現象進一步證實了光的橫波性。振動方向對於傳播方向的不對稱性叫做偏振,它是橫波區別於縱波的一個最明顯的標誌,只有橫波才有偏振現象。簡介 干涉和衍射是各種波動都具有的現象,無論是縱波還是橫波,都會產生干涉和衍射。因此,我們常常...
光的干涉現象的發現,在歷史上對於由光的微粒說到光的波動說的演進起了不可磨滅的作用。1801年,T.楊提出了干涉原理並首先做出了雙狹縫干涉實驗,同時還對薄膜形成的彩色作了解釋。1811年,D.F.J.阿喇戈首先研究了偏振光的干涉現象。現代,光的干涉已經廣泛地用於精密計量、天文觀測、光彈性應力分析、光學精密加工...
通常把干涉偏振濾光器裝在特製的望遠鏡上,這種附有干涉偏振濾光器的望遠鏡做色球望遠鏡,目前在許多天文台里都使用這種儀器來觀測色球層,井拍攝太陽上變動的電影。發展歷史 法國天文學家李奧(1897一1952年)主要從事行星和太陽的研究,1921~1929年首次創製高靈敏度的照相偏振測量計,對月球和行星進行系統的偏振測量,...
“分光偏振測量”是天文學專有名詞。內容簡介 “分光偏振測量”是來自中國天文學名詞審定委員會審定發布的天文學專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數據著作權由天文學名詞委所有。補充說明 “英漢天文學名詞資料庫”(以下簡稱“天文名詞庫”)是由中國天文學會天文學名詞審定委員會(以下簡稱“名詞委”)編纂和維護...
本課題提出了一種利用干涉粒子成像(IPI)法檢測雲粒子譜分布(相態、尺度、濃度和含水量等)的方法。採用幾何光學近似模型(GOM)研究了非均勻粒子的散射特性,通過與Aden–Kerker法的計算結果對比,驗證了GOM方法研究粒子散射特性的可行性。基於均勻球形粒子的散射偏振特性,利用COMSOL軟體推導了非球形粒子和非均勻粒子的...
第15章討論了射電干擾對射電干涉儀的影響。最後一章介紹了一些相關的技術,包括強度干涉測量法、月掩星觀測和光學干涉測量等。圖書目錄 1介紹與歷史回顧 2干涉與合成孔徑成像導論 3干涉儀回響分析 4幾何關係和偏振測量 5天線與陣列 6接收機系統回響 7模擬接收機系統設計 8敢字信號處理 符號表 英中文對照索引 ...
《光纖偏振態的超快控制與高速檢測技術》是依託北京交通大學,由吳重慶擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 光纖中光信號偏振態的高速控制與高速測量在偏振模色散補償、偏振復用、各種基於光纖干涉原理的全光信號處理器件、基於偏振的光時域反射技術、偏振開關、偏振編碼器以及量子光通信等領域都有廣泛的套用。本項目提出...
《利用外差干涉技術進行絕對距離測量研究》是依託清華大學,由趙洋擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 本課題是利用雙縱模He-Ne雷射器輸出兩縱模偏振正交的特點而實現的絕對距離干涉測量系統。它是用兩個波長各自的外差干涉信號比相,直接測量出合成波的小數級次,提高了干涉儀測量精度;用雙聲光調製器實現外...
在這個PCSA配置中,控制線性偏光鏡P和四分之一玻片C的角度使得橢偏光束在經過樣品反射之後得到完全的線偏振光。當分析鏡A偏振角度與經過被測樣品表面反射後得到的線偏振光的角度垂直(90°)時,獲得完全的破壞性干涉,此時CCD相機檢測到光通量的處於絕對值最小狀態,即為消光現象,這就是橢偏儀的消光條件。 在橢偏...
測量中的套用 3.4.1雷射測振技術用於聲換 能器近場全息測量 3.4.2雷射測振技術用於 校準水聽器靈敏度 3.4.3雷射聲納 3.5雷射測振儀校準 3.5.1振動校準法 3.5.2衝擊校準法 3.5.3調頻信號校準法 3.5.4光頻調製法校準 雷射測振儀 3.6都卜勒和偏振干涉 相結合的微位移測量 3.6.1基於都卜勒效應和 偏...
3.3.4 光纖偏振模色散的統計規律39 3.3.5 偏振模式耦合42 3.3.6 耦合非線性薛丁格方程法與馬納科夫方程43 本章參考文獻44 第4章 偏振模色散的測量方法48 4.1 偏振模色散的時域測量方法48 4.1.1 光脈衝延遲法48 4.1.2 偏分孤子法49 4.1.3 干涉儀測量法51 4.2 偏振模色散的頻域測量方法52 4.2...
01°量級。這些誤差項之間是互相耦合的,不能通過常見的誤差合成方法,計算膜厚測量總體誤差。雷射源輸出偏振態的不穩定是非線性誤差漂移的主要原因。針對空間光路結構的外差干涉橢偏測量系統的不足,本項目還初步研究了基於模間干涉的全光纖結構Mach–Zehnder干涉儀,以提高系統抗干擾能力和穩定性。
為獲取目標的形貌信息,本課題提出一種基於干涉照明的光譜偏振形貌測量方法。研究了基於寬光譜干涉照明的新型高光譜成像原理,建立光譜信息與干涉信號之間的理論關係。研究了基於寬光譜干涉照明的三維形貌測量方法原理,建立形貌信息與干涉信號之間的理論關係。通過上述理論研究,建立一個高光譜、偏振、立體形貌的五維一體化...
本課題提出一種新型凝視式光譜偏振成像原理與實現方法,利用晶體雙折射效應實現偏振分束干涉和光譜調製濾波,不需要在光譜維、空間維、偏振維進行推掃成像,實時獲得光譜偏振四維數據;不需要使用狹縫,能夠最大限度提高系統光通量和信噪比。通過對凝視式光譜成像和凝視式偏振成像原理研究,進行偏振干涉和光譜濾波理論計算,...
使用單頻雷射干涉儀時,要求周圍大氣處於穩定狀態,各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結果。雙頻雷射干涉儀 在氦氖雷射器上,加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由於塞曼分裂效應和頻率牽引效應, 雷射器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片後成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路...
測量過程 橢偏參數 在橢偏測量過程中,有兩個橢偏參數非常關鍵。(標準)橢圓偏振測量四個史托克參數(Stokes parameters)中的兩個,通常以Δ及Φ來表示。TanΦ為反射後之振幅比,Δ為相位移(相差)。由於橢圓偏振系測量兩項之比值(或差異)而非其絕對數值,因此這技術所得的數據是相當正確且可再現的,其對散射及...
偏光方法是利用偏振光的干涉原理進行檢驗或測量的方法。偏振光是電矢量相對於傳播方向以一定固定方向振動的光。按電矢量末端在光的傳播過程中形成的軌跡,偏振光主要分為線偏振光(平面偏振光)和橢圓偏振光。電場強度矢量與磁場強度矢量各按固定的、互相垂直的方向振動的光稱線偏振光;兩個頻率相同,沿著相同方向傳播並且偏振...
ASAPTM,即高級系統分析程式。全稱Advanced Systems Analysis Program,為光學系統定量分析的業界標準。ASAP的分析功能包括照明分析、輻射度測量、偏振、光纖耦合效率、干涉測量、雜光分析(散射和鬼影分析)、成像質量及薄膜鍍膜性能分析。ASAP為光學系統定量分析的業界標準。分析功能包括照明分析、輻射度測量、偏振、光纖耦合...
光測彈性儀是套用偏振光干涉原理對應力作用下能產生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。套用它可以通過模型在實驗室內進行大型建築構件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試,並可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況(見應力雙折射)。簡介 經典的透射式...
第五章 偏振光分析法測量 第一節 偏振光分析法基本原理 第二節 光學玻璃應力雙折射測量 第三節 光學薄膜厚度和折射率測量 第四節 偏振干涉測量 第六章 光學系統成像性能評測 第一節 成像性能評測的基本理論 第二節 星點檢驗 第三節 解析度測量 第四節 畸變測量 第五節 光學傳遞函式測量 第七章 光度測量 第...
電光效應實驗指的是物理電學上的一個實驗。實驗目的 1.掌握晶體電光調製的原理和實驗方法。2.學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓、電光常數的實驗方法。3. 觀察電光效應所引起的晶體光性的變化和會聚偏振光的干涉現象。學史背景 當給晶體或液體加上電場後,該晶體或液體的折射率發生變化,這種現象成為電光效應...
常見的此類技術有消光法、光學外差干涉法及彈光調製法等,可測量旋光角度從而分析物質濃度、含量、純度,因而該技術被廣泛套用於製糖、製藥、食品、香料、石油、輕工、化工等行業。簡介 平面偏振光通過某種物質後,其振動面將以光的傳播方向為軸線轉過一定的角度,這種現象稱為旋光現象。旋光角度的大小與所通過物體厚度...
LDV無需進行質量載入即可進行振動測量,這對於MEMS等微納器件尤其重要。結構原理 光學系統原理 雷射測振儀的核心是一台高精密雷射干涉儀和一台信號處理器。高精密雷射干涉儀內的雷射器發出的偏振光(設頻率為F0)由分光鏡分成兩路,一路作為測量光,一路作為參考光。參考光通過聲光調製器具有一定頻移(F),測量光...