《光學測試技術(第2版)》是一門技術基礎課程教材，適合於光學工程、光電技術、測控技術與儀器各專業。
基本介紹
- 書名：光學測試技術
- ISBN：9787564025649, 7564025646
- 出版社：北京理工大學出版社
- 出版時間：2010年1月1日
- 開本：16
內容簡介,目錄,
內容簡介
《光學測試技術(第2版)》系統介紹了光學測試中七種主要測試技術的基本理論、主要套用、測試方法和測量誤差分析等。在教材內容上既注重基礎理論及實用性·又注意選擇國內外有重要套用價值的光學測試新技術，其中不少是作者多年來的科研成果。因而使本教材既拓寬了知識面，又能適應光學測試近期發展的需要。各章附思考與練習題、參考文獻。便於自學和組織教學。《光學測試技術(第2版)》所介紹的測試技術，不僅適用於光學行業，對航空航天、計量、測繪、機械、輕工等部門的有關行業也有實用價值。所以，《光學測試技術(第2版)》還可供這些行業從事科研、生產的工作人員參考。 {zzjj}
目錄
第一章 基本光學測量技術
第一節 光學測量中的對準與調焦技術
第二節 光學測試裝置的基本部件及其組合
第三節 光學測量誤差與測量不確定度
第四節 焦距和頂焦距測量
第二章 光學準直與自準直技術
第一節 雷射準直與自準直技術
第二節 自準直法測量平面光學零件光學平行度
第三節 自準直法測量球面曲率半徑和焦距
第三章 光學測角技術
第一節 光學測量用的精密測角儀
第二節 測角技術的套用
第四章 光學干涉測量技術
第一節 干涉測量基礎
第二節 泰曼干涉測量和斐索干涉測量
第三節 移相干涉測量
第四節 錯位干涉測量
第五節 點衍射移相干涉測量
第六節 雷射外差干涉測量
第五章 偏振光分析法測量
第一節 偏振光分析法基本原理
第二節 光學玻璃應力雙折射測量
第三節 光學薄膜厚度和折射率測量
第四節 偏振干涉測量
第六章 光學系統成像性能評測
第一節 成像性能評測的基本理論
第二節 星點檢驗
第三節 解析度測量
第四節 畸變測量
第五節 光學傳遞函式測量
第七章 光度測量
第一節 輻射度、光度量基礎
第二節 積分球和CIE標準照明體
第三節 基本光度量的測量
第四節 光學系統透射比的測量
第五節 光學系統雜光係數的測量
第六節 照相物鏡像面照度均勻性的測量
