低溫變溫全波段螢光光譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學領域的分析儀器，於2009年11月23日啟用。
基本介紹
- 中文名：低溫變溫全波段螢光光譜儀
- 產地：英國
- 學科領域：材料科學、化學、物理學
- 啟用日期：2009年11月23日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
200nm-900nm 紫外可見波段螢光光譜測試，800nm-1900nm近紅外螢光光譜測試，2500nm-5500nm 中紅外螢光光譜測試；納秒，微秒、毫秒級瞬態光譜；變溫螢光測試（溫度範圍10-300K）。
主要功能
螢光光譜（包括穩態、瞬態和低溫測試）是一種套用十分廣泛的研究手段，可用於研究物質的螢光性能、激發和發光的物理機制、材料中缺陷的行為、化學反應的反應機制、生物大分子結構和功能等。能利用該設備的學科包括材料科學與工程、納米科學與技術、高分子材料、凝聚態物理、半導體物理、化學、生物等眾多學科領域。是相關領域教學和科研中不可或缺的分析技術。
