低劑量X射線成像技術的研究

《低劑量X射線成像技術的研究》是依託中國科學技術大學，由汪曉蓮擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

• 中文名：低劑量X射線成像技術的研究
• 項目類別：面上項目
• 項目負責人：汪曉蓮
• 依託單位：中國科學技術大學
• 批准號：19775045
• 申請代碼：A3007
• 負責人職稱：教授
• 研究期限：1998-01-01 至 2001-12-31
• 支持經費：12.5（萬元）

中文摘要

設計研製了高氣壓多絲室和帶轉換體的多絲室研究不同能量X射線入射條件下氙的特徵X射線對多絲室成像性能的影響。氙的X射線引起的誤計數是計數的12.4%，通過蒙特卡羅模擬建立修正矩陣，可以有效地提高投影像的解析度和重建積分吸收係數的精度。多絲室的能量解析度為20%左右，漏氣率小於0.0001/分.氣體電子倍增器GEM是近幾年發展的新氣體元件,可以作為多絲室的陰極和預放大部分.實驗結果表明在氬和10%二氧化碳混合氣體中,GEM的放大倍數達150,使多絲室可安全地工作在較低電壓下,是理想的X射線探測器。基於位置靈敏光電倍增管的小型r相機的研究對圖象數據的獲取重建和處理積累了經驗。由於壓縮效應對直徑2mm平等孔位置分辨為4mm。