互換性與技術測量基礎(華東理工大學出版社出版的圖書)

《互換性與技術測量基礎》是2006-1-1華東理工大學出版社出版的一本圖書。

基本介紹

• 中文名：互換性與技術測量基礎
• 作者：柳暉
• 出版社：華東理工大學出版社
• 出版時間：2006-1-1
• 頁數：243
• ISBN：9787562818120
• 裝幀：平裝

內容簡介

本書為高等工科院校機械類各專業的技術基礎課教材。內容包括：互換性與標準化的基本概念，孔、軸極限與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度，測量技術基礎，滾動軸承的互換性，鍵、花鍵結合的互換性，螺紋結合的互換性，圓錐結合的互換性，齒輪轉動的互換性和尺寸鏈基礎等。本書適用於高等工科院校機械類及相關專業學生作教材，也可供其他行業工程技術人員作參考。

目錄

1 導論

1.1 製造業的互換性

1.2 誤差和公差

1.3 標準化與優先數系

1.4 本課程的研究對象及任務

思考題

2 孔、軸級限與配合

2.1 概述

2.2 基本術語及定義

2.3 常尺寸段孔、軸極限與配合

2.4 常用尺寸、軸級限與配合

2.5 大尺寸孔、軸極限與配合

2.6 線性我角度尺寸的一般公差

思考題

3 形狀和位置公差與檢測