三維相移電子散斑干涉儀可滿足物體表面面內位移和離面位移同時測量的要求。該儀器採用高性能半導體雷射器作光源，並配以電子散斑條紋實時顯示和位相處理軟體，使得操作方便、測量結果兼容性強（便於通用數據處理軟體接口）。
基本介紹
- 中文名：三維相移電子散斑干涉儀
- 外文名：3D phase shift electronic speckle interferometers
- 光源：半導體泵浦固體雷射器（綠光
- 相機：1280×1024 USB2.0數字攝像頭
- 鏡頭：25mm定焦鏡頭
名稱,原理,參數,
名稱
三維相移電子散斑干涉儀:3D phase shift electronic speckle interferometers
原理
相移電子散斑干涉（ESPI）技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之後發展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠雷射干涉和計算機圖像採集處理系統獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用，可用於解決工程中的強度和剛度問題，並可用於殘餘應力測量。
卓力特光電儀器.
參數
◆ 光源：半導體泵浦固體雷射器（綠光）,輸出功率大於20mw, 波長532nm
◆ 相機：1280×1024 USB2.0數字攝像頭
◆ 鏡頭：25mm定焦鏡頭（標配），可選配其它C接口鏡頭
◆ 工作距離：400～800mm
◆ 相移器：10nm
◆ 演示試件： 圓盤受均布載荷，三點彎曲梁
◆ 最大範圍：Ф250mm
◆ 尺寸：520cm×370cm×250cm
◆ 重量：22kg
