《一種基於二元維納過程的軸承剩餘壽命預測方法》是浙江工業大學於2018年1月31日申請的專利，該專利公布號為CN108304348B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是金曉航、李建華。
基本介紹
- 中文名：一種基於二元維納過程的軸承剩餘壽命預測方法
- 授權公告號：CN108304348B
- 授權公告日：2021.06.18
- 申請號：2018100937169
- 申請日：2018.01.31
- 地址：310014浙江省杭州市下城區潮王路18號浙江工業大學
- 發明人：金曉航; 李建華
- Int. Cl.：G06F30/17(2020.01)I; G06F17/15(2006.01)I; G06F119/04(2020.01)N
- 專利代理機構：杭州斯可睿專利事務所有限公司33241
- 代理人：王利強
- 專利權人：浙江工業大學
對比檔案,專利摘要,
對比檔案
EP 1417626 A2,2004.05.12; CN 105117550 A,2015.12.02; CN 104598734 A,2015.05.06; CN 107194478 A,2017.09.22
王明磊 等.二元Wiener 過程下的小樣本電主軸可靠性分析.《機械科學與技術》.2017,; 王小林.基於非線性wiener過程的產品退化建模與剩餘壽命預測研究.《工程科技Ⅱ輯》.2016,
專利摘要
一種基於二元維納過程的軸承剩餘壽命預測方法，包括以下步驟：1、採集軸承退化階段垂直方向和水平方向上的振動信號；2、分別計算兩個方向上振動信號的有效值，將獲得的有效值作為軸承的兩個退化性能指標；3、檢驗分析性能指標的增量是否服從常態分配；4、利用二元維納過程構建軸承退化模型；5、利用AIC信息準則選擇合適的Copula函式描述兩個性能指標間的相關特性，獲得軸承剩餘壽命的聯合機率密度函式，採用極大似然估計法線上更新模型參數，預測軸承剩餘壽命。本發明所需訓練樣本少、耗時較短、預測精度較高。
